| 講演名 | 2001/9/20 TEM analysis of the microstucture of CoCrNbPt perpendicular magnetic recording media : The effects of intermediate layers in the double layer media , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | The effects of Ti, Pt and Ti/Pt intermediate layers were studied by TEM on the microstructure of double layered perpendicular magnetic recording media. The Ti intermediate layer became amorphous and the grain size of Co-Cr-Nb-Pt was reduced to 10-13nm with no preferred orientation. Pt intermediate layer provided(0001) texture of CoCrNbPt, and 20-40nm grain size. TEM showed high stress field at the permalloy-Pt-CoCrNbPt interfaces. The best properties were achieved by Ti/Pt stacked intermediate layer: Ti(5nm) interrupted heteroepitaxy, provided high nucleation density and reduced grain size of the Pt(10nm) of preferred(111) orientation. These conditions favoured(0001) orientation and 10-16nm grain size of the CoCrNbPt recording layer. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | intermediate layers / microstructure / interface reaction / grain size reduction / preferred(0001)orientation |
| 資料番号 | EMD2001-55 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2001/9/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | TEM analysis of the microstucture of CoCrNbPt perpendicular magnetic recording media : The effects of intermediate layers in the double layer media |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / intermediate layers |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Gyorgy Safran |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Research Institute for Technical Physics and Metarials Science, Hungarian Academy of Sciences |
| 発表年月日 | 2001/9/20 |
| 資料番号 | EMD2001-55 |
| 巻番号（vol） | vol.101 |
| 号番号（no） | 326 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |