| 講演名 | 2000/12/8 窒素雰囲気中におけるAg、Pd、Cu接点の動作特性に関する実験 牧元 次郎, 長谷川 誠, 沢 孝一郎, |
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| 抄録(和) | 本研究は、接点開離時に発生するアーク放電あるいは接触信頼性への周囲雰囲気による影響を多角的に追求することを目的として、不活性ガス中においてアーク放電により引き起こされる電気接点の諸特性と周囲雰囲気とを関連づけて総合的に理論化することを目標とするものである。今回窒素中において代表的な接点材料であるAg、PdおよびCuの開閉接点を用いて実験を行った結果、窒素中では空気中に比して接触抵抗は低減および安定化され、また接点の消耗転移についても減少することがみられ、周囲雰囲気としての窒素が接触信頼性の低下を遅延・抑制する効果について確認した。これらの結果はアーク放電の継続時間および放電が金属相あるいはガス相かにより大きく影響される可能性がある。 |
| 抄録(英) | The purpose of this work is to research effects of atmosphere on arc discharge and contact reliability in various aspects. We aim to produce systematical theory relating phenomena caused by arc discharge with surrounding condition, especially in inert gas. The operation studies are conducted on typical contact materials, Ag, Pd and Cu, in the nitrogen gas. As a result, in nitrogen atmosphere contact resistance is lower and stabler and material wear and transfer is smaller than in air. Thus nitrogen gas has effects on delaying and restraining the deterioration of contact reliability. We consider that arc duration and difference of arc discharge phase greatly affect these consequences. |
| キーワード(和) | アーク放電 / 接触抵抗 / 材料転移・消耗 / 窒素ガス / レーザ顕微鏡 |
| キーワード(英) | arc / contact resistance / material transfer and wear / nitrogen gas / laser microscope |
| 資料番号 | EMD2000-81 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2000/12/8(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 窒素雰囲気中におけるAg、Pd、Cu接点の動作特性に関する実験 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Experiment on Operating Characteristics of Ag, Pd and Cu Contacts in Nitrogen Atmosphere |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | アーク放電 / arc |
| キーワード(2)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(3)（和/英） | 材料転移・消耗 / material transfer and wear |
| キーワード(4)（和/英） | 窒素ガス / nitrogen gas |
| キーワード(5)（和/英） | レーザ顕微鏡 / laser microscope |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 牧元 次郎 / Jiro MAKIMOTO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学 理工学部 システムデザイン工学科 Department of System Design Engineering Faculty of Science nad Technology, Keio University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 長谷川 誠 / Makoto HASEGAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学 理工学部 システムデザイン工学科 Department of System Design Engineering Faculty of Science nad Technology, Keio University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 沢 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学 理工学部 システムデザイン工学科 Department of System Design Engineering Faculty of Science nad Technology, Keio University |
| 発表年月日 | 2000/12/8 |
| 資料番号 | EMD2000-81 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 511 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |