講演名 1998/12/18
n-ヘキサン中電気接点の開離時アークによる材料消耗
箕浦 直樹, 相馬 智幸, 沢 孝一郎,
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抄録(和) 本研究の目的は、液体誘電体中において接点開離時に発生するアーク放電が、接触抵抗及び電極材料の移転・消耗特性に及ぼす影響を調べることである。代表的な接点材料であるAg、Pdを用いて行ったこれまでの研究により、電極材料消耗量、接触抵抗の両面から考察した場合、使用してきた液体誘電体(蒸留水、メタノール、n-ヘキサン)中の電気接点技術で最も有効であり可能性が考えられるのは、低電流(2A以下程度)負荷時のn-ヘキサン中であることが明らかとなった。しかしながら、そのn-ヘキサン中においての消耗に関するメカニズム、信頼性などに未だ不明瞭な点が残るため、今回その検討を行なっている。
抄録(英) The purpose of this work is to make clear the pehnomena of electrical contacts in liquid environments with light-duty application. The break operation studies have been conducted on Ag and Pd materials under the inductive in three different dielectric liquids(distilled water, methanol and n-hexane). The characteristics of contact resistance and material transfer are strongly affected by dielectric liquids. According to our previous researches, from the phase of material loss and contact resistance, in n-hexane there is the possibility that better contact reliability can be attained with low load current. This is because in n-hexane wear is very littel, owing to a film on the surface made of the carbons contained in n-hexane, though the contact resistance becomes high with high load current. Thus, this paper mainly reports the results of the detailed experiment in n-hexane.
キーワード(和) 液体誘電体 / n-ヘキサン / アーク放電 / 接触抵抗 / 材料消耗 / 接点表面
キーワード(英) dielectric liquid / n-hexane arc contact resistance / material wear / contact surface
資料番号 EMD98-75
発行日

研究会情報
研究会 EMD
開催期間 1998/12/18(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromechanical Devices (EMD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) n-ヘキサン中電気接点の開離時アークによる材料消耗
サブタイトル(和)
タイトル(英) Wear of Electrical Contacts in n-hexane by Breaking Arc
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 液体誘電体 / dielectric liquid
キーワード(2)(和/英) n-ヘキサン / n-hexane arc contact resistance
キーワード(3)(和/英) アーク放電 / material wear
キーワード(4)(和/英) 接触抵抗 / contact surface
キーワード(5)(和/英) 材料消耗
キーワード(6)(和/英) 接点表面
第 1 著者 氏名(和/英) 箕浦 直樹 / Naoki Minoura
第 1 著者 所属(和/英) 慶應義塾大学理工学部電気工学科
Department of Electrical Engineering, Faculty of Science and Technology, Keio University
第 2 著者 氏名(和/英) 相馬 智幸 / Tomoyuki Soma
第 2 著者 所属(和/英) 慶應義塾大学理工学部電気工学科
Department of Electrical Engineering, Faculty of Science and Technology, Keio University
第 3 著者 氏名(和/英) 沢 孝一郎 / Koichiro Sawa
第 3 著者 所属(和/英) 慶應義塾大学理工学部電気工学科
Department of Electrical Engineering, Faculty of Science and Technology, Keio University
発表年月日 1998/12/18
資料番号 EMD98-75
巻番号(vol) vol.98
号番号(no) 494
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日