講演名 1994/7/25
直流抵抗回路を開閉するAg-Cd系電気接点でのスイッチングアーク特性
窪野 隆能, 最上 正彦,
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抄録(和) 開離力15gfの実用継電器に搭載したAg、Ag, Cd012wt%及びAg/Cd11wt%の電気接点対でDC30V-3Ω抵抗回路を10万回開閉し、ロッキング故障を誘発した接触面損傷の原因であるスイッチングアークの継続時間を測定した。開離時アークは約0.6~0.8msであり、転移突起は出来なかった(陽極消耗アークによる転移量が陰極消耗アークで消散した)。約0.1~0.3msの閉成時アークで出来た転移突起が陰極面上に出現した。そのため、閉成責務動作と開閉両責務動作の場合に転移突起ができ、付着物の少ない突起面の場合にロッキングが生じたと判断
抄録(英) The influences of the duration of making arcs and breaking arcs on the transferred pips have been discussed in experiments that the Ag,Ag, Cd11wt%,or Ag/CdO12wt% contactsmake and break a 30-V/3-Ω circuit.the make-only contacts have the arc duration of 0.1 to 0. 3 ms and a large pip on the cathode surface.Although the break- only contacts have the long arc duration of 0.6 to 0.8 ms,they do not form a visible pip on both surfaces of contacts.
キーワード(和) 電気接点材料 / 開閉動作機能 / スイッチングアーク / アーク継続時間 / 転移
キーワード(英) contact metal / switching operation / switching arc / arc duration / metal transfer / transferred pip
資料番号 EMD94-24
発行日

研究会情報
研究会 EMD
開催期間 1994/7/25(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromechanical Devices (EMD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 直流抵抗回路を開閉するAg-Cd系電気接点でのスイッチングアーク特性
サブタイトル(和)
タイトル(英) Switching Arc Characteristics on Cd-Added Ag-Based Contacts Making and Breaking a DC 30-V/10-A Circuit.
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 電気接点材料 / contact metal
キーワード(2)(和/英) 開閉動作機能 / switching operation
キーワード(3)(和/英) スイッチングアーク / switching arc
キーワード(4)(和/英) アーク継続時間 / arc duration
キーワード(5)(和/英) 転移 / metal transfer
第 1 著者 氏名(和/英) 窪野 隆能 / Takayoshi Kubono
第 1 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering,Shizuoka University
第 2 著者 氏名(和/英) 最上 正彦 / Masahiko Mogami
第 2 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering,Shizuoka University
発表年月日 1994/7/25
資料番号 EMD94-24
巻番号(vol) vol.94
号番号(no) 172
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日