| 講演名 | 1996/1/19 大気圧近傍のグロー放電における放電輝点の大きさの推定 糸山 景大, 弥延 剛, 林 佑二, |
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| 抄録(和) | 放電輝点の大きさを推定する一方法として,ハイドロカーボンガスを雰囲気ガスに混入し,放電後の放電痕跡の観察を通して推定する方法を提案した。すなわち, N_2+NO(458ppm)+CH_4雰囲気において,短間隙放電を起こさせると,陰極表面に円形の炭化付着物が,陽極表面には炭化堆積物が,必ず観察される。放電痕跡の大きさから算出される電流密度(正規換算電流密度)の値は, CH_4の濃度が0.6%において,17～20×10^<-6>A/(cm^2・Torr^2)のほぼ一定値となる。この値は従来報告されている値の約5分の1程度であり,妥当なものと言える。 |
| 抄録(英) | This paper proposed the method as an estimation on the size of discharge spots through observation on traces after the discharge arose in circumstances gases mixed hydro-carbon gas. Namely, the circular carbonious deposit and the carbonious heap are observed on cathode surface and anode one, respectively, after the short gap discharge arises in N_2 + NO(458ppm) + CH_4. The current density(normal conversion current density) is culculated from the size of the trace of discharge and its value is 17～20×10^<-6>A/(cm^2・Torr^2) in case that CH_4 is 0.6%. The value is about 1/5 of values that are reported in the former articles and is resonable one. |
| キーワード(和) | 短間隙放電 / NOx分解 / 放電痕 / 電流密度 |
| キーワード(英) | short gap discharge / NOx dissociation / trace of discharge / current density |
| 資料番号 | EMD95-65 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 1996/1/19(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 大気圧近傍のグロー放電における放電輝点の大きさの推定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Estimation for the Spot Size of Glow Discharge in near One Atmospheric Pressure |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 短間隙放電 / short gap discharge |
| キーワード(2)（和/英） | NOx分解 / NOx dissociation |
| キーワード(3)（和/英） | 放電痕 / trace of discharge |
| キーワード(4)（和/英） | 電流密度 / current density |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 糸山 景大 / Kagehiro ITOYAMA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 長崎大学教育学部 Nagasaki University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 弥延 剛 / Takeshi YANOBE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 北辰工業株式会社 Hokushin Industries, Inc. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 林 佑二 / Yuji HAYASHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所 Fujitsu Laboratories Ltd. |
| 発表年月日 | 1996/1/19 |
| 資料番号 | EMD95-65 |
| 巻番号（vol） | vol.95 |
| 号番号（no） | 472 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |