講演名 1995/10/20
電気接触部に対するシリコーン濃度の影響 : その安全限界レベルと重合度との関係について
玉井 輝雄, 荒又 幹夫,
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抄録(和) 接触障害におよぼすシリコーン蒸気濃度影響をマイクロリレーとマイクロモータを用いて研究した。接触信頼性に影響しないような最小の限界濃度が存在することを明にした。この限界濃度レベルは、10ppm(0.13mg/1)であった。この限界レベルの妥当性をシリコン濃度、分解温度、Si0_2皮膜の厚さ、および接触抵抗等の相互の関係において検証した。さらに、この限界濃度におよぼすシリコーン重合度の影響を理論的に導いた。これらの結果は、シリコーン汚染に原因する接触障害のデータで裏付けられた。
抄録(英) The effect of silicone vapour concentration on the contact failure was examined by using micro relays and motor brush-slip ring(commutator)contacts. A minimum limiting concentration level which does not affect contact reliability was found. This limiting level was 10ppm( 0.13 mg/1).Validity of the limiting level was confirmed by the relationships among concentration, temperature, SiO_2 film thickness and contact resistance. Furthermore, the effect of the degree of silicone polymerization on the limiting concentration was derived by an empirical formula. These results were confirmed by the contact failure data due to the silicone contamination.
キーワード(和) シリコーン / 接触部 / 汚染 / 重合度
キーワード(英) Silicone / contacts / contamination / Polymerization degree.
資料番号 EMD95-41
発行日

研究会情報
研究会 EMD
開催期間 1995/10/20(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromechanical Devices (EMD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 電気接触部に対するシリコーン濃度の影響 : その安全限界レベルと重合度との関係について
サブタイトル(和)
タイトル(英) EFFECT OF SILICONE CONCENTRATION ON ELECTRICAL CONTACTS : RELATIONSHIP BETWEEN POLYMERIZATION DEGREE AND SAFE LEVEL
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) シリコーン / Silicone
キーワード(2)(和/英) 接触部 / contacts
キーワード(3)(和/英) 汚染 / contamination
キーワード(4)(和/英) 重合度 / Polymerization degree.
第 1 著者 氏名(和/英) 玉井 輝雄 / Terutaka Tamai
第 1 著者 所属(和/英) 兵庫教育大学 電子工学教室
Hyogo University of Teacher Education, Electronics Institute
第 2 著者 氏名(和/英) 荒又 幹夫 / Mikio Aramata
第 2 著者 所属(和/英) 信越化学工業株式会社 CRC
Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., Corporate Research Center
発表年月日 1995/10/20
資料番号 EMD95-41
巻番号(vol) vol.95
号番号(no) 331
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日