| 講演名 | 1996/12/20 微小負荷条件における小形接点信頼性に関する検討 王 民国, 沢 孝一郎, |
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| 抄録(和) | 近年, 通信リレー部品の小形化と高信頼性が強く望まれている。本研究では, 微小負荷条件における小形接点信頼性に与える影響を調べるため, 微小負荷電流を流して接点を開閉させた時の単子接点と双子接点の接触抵抗の測定やスティキング現象の観察を行い, それらの特性について考察を行うことを目的とする。DC抵抗負荷, 負荷電流100～500mAで測定を行い, 双子接点の接触抵抗特性は単子接点のそれより低く安定して, 逆に, 双子接点のスティッキング発生率は単子接点より高いことを明らかにした。 |
| 抄録(英) | It is expected that relays and switches with twin contacts can obtain a higher reliability and longer life. In order to verify this consideration, the experiments were performed with the relays, which have single or twin contacts respectively. The results demonstrated that main failure for the contacts tested under less than DC 500mA/5V is sticking. Beause of the difference in stracture of the spring the twin contact is easier to stick than the single one. On the other hand, the resistance of the twin contact is lower and more stable than that of the single one, and the average contact resistance becomes smaller along with increasing in load current. The sticking is an important item to be considered in miniaturization relay quality and reliability |
| キーワード(和) | 接触抵抗 / 単子接点 / 双子接点 / スティッキング / ワイブル分布 |
| キーワード(英) | contact resistance / single contact / twin contact / sticking / weibull distrbution |
| 資料番号 | EMD96-80 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 1996/12/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 微小負荷条件における小形接点信頼性に関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | The Discussion of Switching Behavior of Miniaturization Relay with Single and Twin Contacts at microload current |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(2)（和/英） | 単子接点 / single contact |
| キーワード(3)（和/英） | 双子接点 / twin contact |
| キーワード(4)（和/英） | スティッキング / sticking |
| キーワード(5)（和/英） | ワイブル分布 / weibull distrbution |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 王 民国 / Min-gou Wang |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学理工学部電気工学研究科 Department of Electrical engineering, Faculty of Science and Technology, Keio University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 沢 孝一郎 / Koichiro Sawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学理工学部電気工学研究科 Department of Electrical engineering, Faculty of Science and Technology, Keio University |
| 発表年月日 | 1996/12/20 |
| 資料番号 | EMD96-80 |
| 巻番号（vol） | vol.96 |
| 号番号（no） | 438 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |