講演名 2001/6/20
GHz帯LSl内部波形計測用EOマイクロプローブの開発
品川 満, 橋本 千里,
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抄録(和) 高速高集積LSIの内部ノード波形を計測するために電気光学効果とレーザ光を利用したコンパクトで安価な接触型のEOマイクロプローブシステムを開発したので報告する。本システムは2μm以下の空間分解能と4.5GHzの測定帯域を有する。FIBにより微細配線上に観測パッドを形成することで、サブミクロン配線上のGHz電気信号を高精度に測定可能となった。本EOマイクロプローブをGHz帯で動作する通信用LSI内部ノードの波形評価に適用し、本プローブの有用性を示す。
抄録(英) This paper describes an electro-optic (EO) microprobe for measuring internal-node waveform of GHz LSI's. The system has spatial resolution of less than 2μm and bandwidth of 4.5 GHz. The probe can measure GHz signal on sub-micron line by testing-pad with FIB technology. The probe has been successfully applied to waveform measurement of a GHz communication LSI.
キーワード(和) 電気光学効果 / 半導体レーザ / フォトニクス / EOサンプリング / LSIテスティング / 内部ノード波形測定 / FIB
キーワード(英) electro-optic effect / laser diode / photonics / electro-optic sampling / LSI testing / internal-node waveform measurement / FIB
資料番号 MW2001-44,OPE2001-31
発行日

研究会情報
研究会 MW
開催期間 2001/6/20(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Microwaves (MW)
本文の言語 JPN
タイトル(和) GHz帯LSl内部波形計測用EOマイクロプローブの開発
サブタイトル(和)
タイトル(英) An Electro-optic Microprobe for Internal-node Waveform Measurement of GHz LSI's
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 電気光学効果 / electro-optic effect
キーワード(2)(和/英) 半導体レーザ / laser diode
キーワード(3)(和/英) フォトニクス / photonics
キーワード(4)(和/英) EOサンプリング / electro-optic sampling
キーワード(5)(和/英) LSIテスティング / LSI testing
キーワード(6)(和/英) 内部ノード波形測定 / internal-node waveform measurement
キーワード(7)(和/英) FIB / FIB
第 1 著者 氏名(和/英) 品川 満 / Mitsuru Shinagawa
第 1 著者 所属(和/英) NTT通信エネルギー研究所
NTT Telecommunications Energy Laboratories
第 2 著者 氏名(和/英) 橋本 千里 / Chisato Hashimoto
第 2 著者 所属(和/英) NTTエレクトロニクス
NTT Electronics Corporation
発表年月日 2001/6/20
資料番号 MW2001-44,OPE2001-31
巻番号(vol) vol.101
号番号(no) 137
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日