講演名 | 2001/6/20 GHz帯LSl内部波形計測用EOマイクロプローブの開発 品川 満, 橋本 千里, |
---|---|
PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
抄録(和) | 高速高集積LSIの内部ノード波形を計測するために電気光学効果とレーザ光を利用したコンパクトで安価な接触型のEOマイクロプローブシステムを開発したので報告する。本システムは2μm以下の空間分解能と4.5GHzの測定帯域を有する。FIBにより微細配線上に観測パッドを形成することで、サブミクロン配線上のGHz電気信号を高精度に測定可能となった。本EOマイクロプローブをGHz帯で動作する通信用LSI内部ノードの波形評価に適用し、本プローブの有用性を示す。 |
抄録(英) | This paper describes an electro-optic (EO) microprobe for measuring internal-node waveform of GHz LSI's. The system has spatial resolution of less than 2μm and bandwidth of 4.5 GHz. The probe can measure GHz signal on sub-micron line by testing-pad with FIB technology. The probe has been successfully applied to waveform measurement of a GHz communication LSI. |
キーワード(和) | 電気光学効果 / 半導体レーザ / フォトニクス / EOサンプリング / LSIテスティング / 内部ノード波形測定 / FIB |
キーワード(英) | electro-optic effect / laser diode / photonics / electro-optic sampling / LSI testing / internal-node waveform measurement / FIB |
資料番号 | MW2001-44,OPE2001-31 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | MW |
---|---|
開催期間 | 2001/6/20(から1日開催) |
開催地(和) | |
開催地(英) | |
テーマ(和) | |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | |
委員長氏名(英) | |
副委員長氏名(和) | |
副委員長氏名(英) | |
幹事氏名(和) | |
幹事氏名(英) | |
幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Microwaves (MW) |
---|---|
本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | GHz帯LSl内部波形計測用EOマイクロプローブの開発 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | An Electro-optic Microprobe for Internal-node Waveform Measurement of GHz LSI's |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 電気光学効果 / electro-optic effect |
キーワード(2)(和/英) | 半導体レーザ / laser diode |
キーワード(3)(和/英) | フォトニクス / photonics |
キーワード(4)(和/英) | EOサンプリング / electro-optic sampling |
キーワード(5)(和/英) | LSIテスティング / LSI testing |
キーワード(6)(和/英) | 内部ノード波形測定 / internal-node waveform measurement |
キーワード(7)(和/英) | FIB / FIB |
第 1 著者 氏名(和/英) | 品川 満 / Mitsuru Shinagawa |
第 1 著者 所属(和/英) | NTT通信エネルギー研究所 NTT Telecommunications Energy Laboratories |
第 2 著者 氏名(和/英) | 橋本 千里 / Chisato Hashimoto |
第 2 著者 所属(和/英) | NTTエレクトロニクス NTT Electronics Corporation |
発表年月日 | 2001/6/20 |
資料番号 | MW2001-44,OPE2001-31 |
巻番号(vol) | vol.101 |
号番号(no) | 137 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |