| 講演名 | 2001/6/20 磁気光学サンプリング法を用いた磁気ヘッド解析用高周波磁化観測技術 若菜 伸一, 永井 利明, 阪田 裕司, 関口 英紀, 伊藤 昭夫, |
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| 抄録(和) | 磁気ディスク装置の高性能化が進展しており、磁気ヘッドの開発においては高周波特性の把握が重要となっている。書き込み磁界の挙動を間接的に評価する技術として、ヘッド磁極部の高速な磁化状態の変化を光学的に観測するシステムを開発したので報告する。本システムは磁化状態を磁気カー効果による偏光回転を利用して検出し, ストロボサンプリング法により時間的変化を観測する。また、レーザ照射位置をスキャンすることにより、任意タイミングでの磁化状態分布を観測することも可能である。空間分解能0.2μm、時間分解能70ps、測定帯域5GHzを実現している。本システムの活用により、磁気ディスクヘッドの開発促進が期待される。 |
| 抄録(英) | Understanding the behavior of the magnetic head in high frequency region is indispensable to quicken the development of the high performance hard disk drive. We have developed a high-speed magnetization observation system for the evaluation of the magnetic head using the magnetic Kerr effect and the optical sampling technique. The system observes the magnetization of the magnetic pole of the head by detecting the polarization rotation of the reflected light. It can observe the temporal variation and spatial distribution of the magnetization. The spatial resolution and the measurement bandwidth of the prototype system were 0.2 mm and 5 GHz, respectively. |
| キーワード(和) | 磁気ディスク装置 / 磁気ヘッド / 磁化 / 磁気光学効果 / 磁気カー効果 / 光サンプリング |
| キーワード(英) | Hard disk drive / Magnetic head / Magnetization / Magneto-optic effect / Magnetic Kerr effect / Optical-sampling technique |
| 資料番号 | MW2001-42,OPE2001-29 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
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| 開催期間 | 2001/6/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Microwaves (MW) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 磁気光学サンプリング法を用いた磁気ヘッド解析用高周波磁化観測技術 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Observation Technique of High Frequency Magnetization for HDD Head Evaluation using Magneto-Optic Sampling Technology |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 磁気ディスク装置 / Hard disk drive |
| キーワード(2)（和/英） | 磁気ヘッド / Magnetic head |
| キーワード(3)（和/英） | 磁化 / Magnetization |
| キーワード(4)（和/英） | 磁気光学効果 / Magneto-optic effect |
| キーワード(5)（和/英） | 磁気カー効果 / Magnetic Kerr effect |
| キーワード(6)（和/英） | 光サンプリング / Optical-sampling technique |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 若菜 伸一 / Shinichi Wakana |
| 第 1 著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 計測制御システム研究部 FUJITSU LABORATORIES LTD. Sensing and Control System Laboratory |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 永井 利明 / Toshiaki Nagai |
| 第 2 著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 計測制御システム研究部 FUJITSU LABORATORIES LTD. Sensing and Control System Laboratory |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 阪田 裕司 / Yuji Sakata |
| 第 3 著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 計測制御システム研究部 FUJITSU LABORATORIES LTD. Sensing and Control System Laboratory |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 関口 英紀 / Hidenori Sekiguchi |
| 第 4 著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 計測制御システム研究部 FUJITSU LABORATORIES LTD. Sensing and Control System Laboratory |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 伊藤 昭夫 / Akio Ito |
| 第 5 著者 所属（和/英） | (株)富士通研究所 計測制御システム研究部 FUJITSU LABORATORIES LTD. Sensing and Control System Laboratory |
| 発表年月日 | 2001/6/20 |
| 資料番号 | MW2001-42,OPE2001-29 |
| 巻番号（vol） | vol.101 |
| 号番号（no） | 137 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |