| 講演名 | 2000/12/15 高温超伝導薄膜の表面抵抗測定装置の開発 橋本 経, 小林 禧夫, |
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| 抄録(和) | 本報告では、2誘電体共振器法を用いた高温超電導薄膜の表面抵抗の自動測定システムの概略を述べる。この測定装置では、極低温下において0.01mmの精度で同軸励振線の挿入長を調節することができる。また、Vコネクタを用いた同軸系システムの採用によりマイクロ波帯からミリ波帯までの測定を行うことができる。さらに、低いR_Sをもつ薄膜に対し、従来の開放形共振器を改良し放射損の少ない遮へい形共振器により測定を行なった。その結果、12GHz、20KにおいてYBCO薄膜のR_Sは0.1±0.01mΩとなり、±10%以内の測定精度が得られた。 |
| 抄録(英) | This paper presents the scheme of the automatic measurement apparatus for surface resistance R_S of high-T_c superconducting thin film by two resonator method. The coupling loops can be adjusted every 0.01 mm at low temperature in this apparatus. Moreover, the measurement system applicable to 60GHz was performed by using 1.2mm semi-rigid coaxial coupling loops and V connectors. Then HTS-sapphire resonator structures of two types, open-type and closed-type, are compared. For the open-type resonator, the unloaded Q, Q_u value is decreased fairly by the radiation loss from the coaxial coupling loops. For the closed-type resonator, it is found that measreuement precision for R_S is ±10% for a YBCO film with 0.1±0.01 mΩ of R_S at 12GHz and 20K. |
| キーワード(和) | 高温超電導薄膜 / 表面抵抗 / マイクロ波 / ミリ波 |
| キーワード(英) | High-Tc superconducting film / Surface resistance / Microwave / millimeter wave |
| 資料番号 | MW2000-158 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
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| 開催期間 | 2000/12/15(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Microwaves (MW) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 高温超伝導薄膜の表面抵抗測定装置の開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Development of measurement apparatus for surface resistance of high-T_c superconducting thin films. |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 高温超電導薄膜 / High-Tc superconducting film |
| キーワード(2)（和/英） | 表面抵抗 / Surface resistance |
| キーワード(3)（和/英） | マイクロ波 / Microwave |
| キーワード(4)（和/英） | ミリ波 / millimeter wave |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 橋本 経 / Toru Hashimoto |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 埼玉大学 工学部 電気電子システム工学科 Department of Electrical and Systems, Saitama University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小林 禧夫 / Yoshio Kobayashi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 埼玉大学 工学部 電気電子システム工学科 Department of Electrical and Electronic Systems, Saitama University |
| 発表年月日 | 2000/12/15 |
| 資料番号 | MW2000-158 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 528 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |