講演名 2000/8/22
SCE2000-14 / MW2000-78 YBCO薄膜粒界接合の磁束ノイズ特性
平野 悟, 小山 洋, 師岡 利光, 中山 哲, 栗城 真也,
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抄録(和) 磁場中(10μT)冷却したYBa_2Cu_3O_<7-δ>(YBCO)薄膜バイクリスタル粒界接合(幅3mm)中の磁束を77Kにおいて直接磁束検出法を用いて測定した。冷却後印加磁場を変化させると、閾値(+1.4μT, -1.5μT)以上でスイッチング・ノイズが現れ、低周波ノイズ・パワーが大きく増加した。磁束ノイズの時間波形から、遮へい電流によって駆動された磁束量子が粒界接合内で20-500μmという長距離ホッピングを行うことが分かった。さらに、粒界接合にスロットを作り込むことによって並列SQUIDアレーを形成すると、粒界接合内の磁束量子の長距離ホッピングが抑制され、そのホッピング距離のRMS値は1μm以下になることが分かった。
抄録(英) We measured the flux of a wide bicrystal grain boundary of YBa_2Cu_3O_<7-δ> film, cooled to 77K in a field of 10μT, using a superconducting thin-film coil and Nb-based SQUID. When the applied field was changed to, and above, small threshold values(+1.4μT, -1.5μT), the sample showed random switching noises with a sharp increase in low-frequency noise power. The results suggested that there was long-distance movement of vortices over 20 - 500 μm within the grain boundary, driven by the shielding current. The vortex movement was suppressed to lengths of less than 1 μm in a slotted grain boundary, by making an array of SQUIDs that can hold vortices stably.
キーワード(和) 直接磁束検出法 / YBa_2Cu_3O_<7-δ>(YBCO)粒界接合 / 磁場中冷却(FC) / スイッチング・ノイズ / ホッピング距離 / 並列SQUIDアレー
キーワード(英) Direct flux detection method / YBa_2Cu_3O_<7-δ>(YBCO)grain bundary junction / field cool(FC) / switching noise / hopping distance / parallel SQUID array
資料番号 SCE2000-14,MW2000-78
発行日

研究会情報
研究会 MW
開催期間 2000/8/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Microwaves (MW)
本文の言語 JPN
タイトル(和) SCE2000-14 / MW2000-78 YBCO薄膜粒界接合の磁束ノイズ特性
サブタイトル(和)
タイトル(英) SCE2000-14 / MW2000-78 Flux Noise of YBCO Thin Film Grain Boundary Junctions
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 直接磁束検出法 / Direct flux detection method
キーワード(2)(和/英) YBa_2Cu_3O_<7-δ>(YBCO)粒界接合 / YBa_2Cu_3O_<7-δ>(YBCO)grain bundary junction
キーワード(3)(和/英) 磁場中冷却(FC) / field cool(FC)
キーワード(4)(和/英) スイッチング・ノイズ / switching noise
キーワード(5)(和/英) ホッピング距離 / hopping distance
キーワード(6)(和/英) 並列SQUIDアレー / parallel SQUID array
第 1 著者 氏名(和/英) 平野 悟 / S. Hirano
第 1 著者 所属(和/英) 北海道大学電子科学研究所
Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University
第 2 著者 氏名(和/英) 小山 洋 / H. Oyama
第 2 著者 所属(和/英) 北海道大学電子科学研究所
Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University
第 3 著者 氏名(和/英) 師岡 利光 / T. Morooka
第 3 著者 所属(和/英) セイコー・インスツルメンツ株式会社
Seiko Instruments Inc.Matsudo, Chiba
第 4 著者 氏名(和/英) 中山 哲 / S. Nakayama
第 4 著者 所属(和/英) セイコー・インスツルメンツ株式会社
Seiko Instruments Inc.Matsudo, Chiba
第 5 著者 氏名(和/英) 栗城 真也 / S. Kuriki
第 5 著者 所属(和/英) 北海道大学電子科学研究所
Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University
発表年月日 2000/8/22
資料番号 SCE2000-14,MW2000-78
巻番号(vol) vol.100
号番号(no) 275
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日