講演名 | 1994/7/18 導波管励振誘電体平板共振器を用いたミリ波複素誘導率の非破壊測定 金川 潔, 小林 禧夫, 舟橋 政弘, |
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抄録(和) | 本研究では、導体円筒を真中で切断し、その間に誘電体平板材料を挟んで構成される導波管励振誘電体平板共振器のTE_010>,TE_020>,TE_030>モードを用いて、ミリ波帯においてその複素誘電率の非破壊測定を行う。まず、本共振器構造の共振周波数および無負荷Qの計算を、境界条件により得られる積分方程式にリッツ・ガレルキン法を適応した厳密な解析法により正確に行う。この計算結果より、複素誘電率に及ぼす縁端効果を求めることが可能となった。本測定では、まず、縁端効果を無視して簡単な計算式より複素誘電率を求め、次に本計算によって求められた縁端効果の補正図より正しい値を求める方法により、測定の簡素化を実現する。実際に45-60GHzにおいてテフロン、アルミナ、GaAs基板の複素誘電率の測定を行い、本測定法の有効性を実証する。 |
抄録(英) | This paper discusses a nondestructive method to mearsure accurately complex permittivity of dielectric sheet samples in the muhmeter-wave range.A dielectric plate resonator is constructed by sandwitching a dierectric sheet sample between two circulars metallic cylinder oriented coaxially and is excited by rectangular waveguides.The measurements of PTFE,Alumina,and GaAs sheet samples are performed in 45-60GHz to verify availability of this method. |
キーワード(和) | ミリ波 / 複素誘電率測定 / 導波管 / 縁端効果 |
キーワード(英) | milimeter-wave / complex permittivity Measurement / waveguide / fringing effect |
資料番号 | MW94-40 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | MW |
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開催期間 | 1994/7/18(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Microwaves (MW) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 導波管励振誘電体平板共振器を用いたミリ波複素誘導率の非破壊測定 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Nondestructive Measurements of Complex Permittivity Using Dielectric Disk Resonator Excited by Waveguides in the Millimeter Wave Range |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | ミリ波 / milimeter-wave |
キーワード(2)(和/英) | 複素誘電率測定 / complex permittivity Measurement |
キーワード(3)(和/英) | 導波管 / waveguide |
キーワード(4)(和/英) | 縁端効果 / fringing effect |
第 1 著者 氏名(和/英) | 金川 潔 / Kiyoshi Kanagawa |
第 1 著者 所属(和/英) | 埼玉大学工学部電気電子工学科 Faculty of Engineering,Saitama University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 小林 禧夫 / Yoshio Kobayashi |
第 2 著者 所属(和/英) | 埼玉大学工学部電気電子工学科 Faculty of Engineering,Saitama University |
第 3 著者 氏名(和/英) | 舟橋 政弘 / Masahiro Funabashi |
第 3 著者 所属(和/英) | 株式会社ミリウェイブ Milliwave Co.,Ltd. |
発表年月日 | 1994/7/18 |
資料番号 | MW94-40 |
巻番号(vol) | vol.94 |
号番号(no) | 151 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 8 |
発行日 |