講演名 | 1997/9/18 超幾何分布モデルに基づくソフトウェア信頼性成長モデルの反応係数の拡張 宮川 治, 当麻 喜弘, |
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抄録(和) | 超幾何分布モデルに基づくソフトウェア信頼性成長モデルにおいて信頼性成長曲線の形状を定めるものが反応係数と言われている。この反応係数には幾つかの問題点があることが指摘されている。そこで、これらの問題点を解消するために現在の反応係数を拡張し、この新しい反応係数の推定能力について実フォールトデータ及び疑似フォールトデータを使用しモデルの振舞いの検討を行った。その結果、単純な反応係数でより多くの形状に適合することが分かった。 |
抄録(英) | So far, the refinement of sensitivity factor in the software reliability growth model based on the hyper-Geometric distribution has been argued. This paper proposes a new and simple form of sensitivity factor which shows better fit to different types of growth curves for the number of detected software faults. |
キーワード(和) | ソフトウェア信頼性成長モデル / 超幾何分布モデル / 反応係数 / 形状パラメータ |
キーワード(英) | SRGM / HGD model / sensitivity factor / shape parameter |
資料番号 | SS97-20 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | SS |
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開催期間 | 1997/9/18(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Software Science (SS) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 超幾何分布モデルに基づくソフトウェア信頼性成長モデルの反応係数の拡張 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | The improvement of sensitivity factor in the software reliability growth model based on the hyper-geometric distribution |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | ソフトウェア信頼性成長モデル / SRGM |
キーワード(2)(和/英) | 超幾何分布モデル / HGD model |
キーワード(3)(和/英) | 反応係数 / sensitivity factor |
キーワード(4)(和/英) | 形状パラメータ / shape parameter |
第 1 著者 氏名(和/英) | 宮川 治 / Osamu Miyakawa |
第 1 著者 所属(和/英) | 東京電機大学 工学部 情報通信工学科ディペンダブルコンピューティング研究室 Dept. Info. &Comm. Engg., Tokyo Denki University Dependable Computing Laboratory |
第 2 著者 氏名(和/英) | 当麻 喜弘 / Yoshihiro Tohma |
第 2 著者 所属(和/英) | 東京電機大学 工学部 情報通信工学科ディペンダブルコンピューティング研究室 Dept. Info. &Comm. Engg., Tokyo Denki University Dependable Computing Laboratory |
発表年月日 | 1997/9/18 |
資料番号 | SS97-20 |
巻番号(vol) | vol.97 |
号番号(no) | 260 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 8 |
発行日 |