講演名	2002/9/19 標準CMOSによるイメージセンサ特性評価 伊藤 真也, 川人 祥二, 高嶋 大, 榊原 雅樹,
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抄録(和)	標準CMOSプロセスにより試作したCMOSイメージセンサの諸特性について報告する。0.6μm2層ポリ3層メタルの標準的CMOSファウンダリを利用した。感度、暗電流、固定パターンノイズ、ランダムノイズ、残像特性について調べた。ノイズキャンセルはディジタル領域で行い、リセットノイズ除去性能についても検討した。画素回路は3トランジスタ方式と電荷オーバーフローを用いた4トランジスタ方式を比較し、オーバーフロー方式については、n+/P-subのフォトダイオードとn-well/P-subフォトダイオードを比較した。また、pMOSとP+/n-wellのフォトダイオードについても試作した。
抄録(英)	The technology used is a 0.6μm double-poly triple-metal CMOS process The sensitivity, dark current, fixed pattern noise, random noise, and image lag are compared in 4types of sensors ;3-transistor,n+/p-sub photodiode(PD) ,4-transistor n+/p-sub PD,4-transistor n-well/p-sub PD,and 3-transistor(PMOS) P+/n-well PD.
キーワード(和)	CMOSイメージセンサ / 高速非破壊読み出し / ディジタルノイズキャンセル
キーワード(英)	CMOS image sensor / High-speed non-destructive readout / Digital noise cancel
資料番号	ICD2002-92
発行日

研究会情報
研究会	ICD
開催期間	2002/9/19(から1日開催)
開催地（和）
開催地（英）
テーマ（和）
テーマ（英）
委員長氏名（和）
委員長氏名（英）
副委員長氏名（和）
副委員長氏名（英）
幹事氏名（和）
幹事氏名（英）
幹事補佐氏名（和）
幹事補佐氏名（英）

講演論文情報詳細
申込み研究会	Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語	JPN
タイトル（和）	標準CMOSによるイメージセンサ特性評価
サブタイトル（和）
タイトル（英）	Characteristics of CMOS Image Sensors using a standard CMOS process technology
サブタイトル（和）
キーワード(1)（和/英）	CMOSイメージセンサ / CMOS image sensor
キーワード(2)（和/英）	高速非破壊読み出し / High-speed non-destructive readout
キーワード(3)（和/英）	ディジタルノイズキャンセル / Digital noise cancel
第 1 著者 氏名（和/英）	伊藤 真也 / Shinya ITO
第 1 著者 所属（和/英）	静岡大学 理工学研究科 Shizuoka University
第 2 著者 氏名（和/英）	川人 祥二 / Shoji KAWAHITO
第 2 著者 所属（和/英）	静岡大学 電子工学研究所 Research Institute of Electronics, Shizuoka University
第 3 著者 氏名（和/英）	高嶋 大 / Hajime TAKASHIMA
第 3 著者 所属（和/英）	静岡大学 理工学研究科 Shizuoka University
第 4 著者 氏名（和/英）	榊原 雅樹 / Masaki SAKAKIBARA
第 4 著者 所属（和/英）	静岡大学 理工学研究科 Shizuoka University
発表年月日	2002/9/19
資料番号	ICD2002-92
巻番号（vol）	vol.102
号番号（no）	339
ページ範囲	pp.-
ページ数	5
発行日