| 講演名 | 2001/8/31 DA変換器のタイミング誤差解析 : クロック・ジッタとタイミング・スキュー(グリッチ)の影響 小林 春夫, 黒沢 直樹, 宮内 一行, 川上 愼也, 小暮 英行, 小室 貴紀, 酒寄 寛, |
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| 抄録(和) | 高速DA変換器ではタイミング誤差が精度劣化を引き起こす大きな問題となる。ここではサンプリング・クロック・ジッタとタイミング・スキューの2つのタイミングの問題を理論およびシュミレーションで解析したクロック・ジッタによる出力誤差パワーの式を導出し、周波数特性への影響、SNRへの影響を明らかにした。また、タイミング・スキューにより生じるグリッチの周波数特性および、SNR、SFDRへの影響を調べた。 |
| 抄録(英) | This paper decribes two timing nonideality issues of Digital-to-Analog Converters(DACs);sampling clock jitter and clock skew effects.(i)A fornula for output error power due to sampling clock jitter is derived, and this has been validated by numrical simulation;spectrum characteristics of jitter-related noise are also examined.We have also found that when an analog lowpass filter follows the DAC and only the noise power inside the signal band is considered, increasing jitter and increasing input signal frequency degrade the DAC SNR.(ii)The clock timing skew inside the DAC causes glitch impulses.We try to characterize them by simulation and we have found the followings;as the input frequency increases, the effects of the glitch on the DAC SNR decrease. The effects of the gletch due to upper bits on the DAC SNR and SFDR are more Significant than due to lower bits.Also glitch power is mainly located at the odd-multiple frequencies of the input signal. |
| キーワード(和) | DA変換器 / サンプリング / クロック・ジッタ / クロック・スキュー / グリッチ |
| キーワード(英) | DAC / Sanpling / jitter / Clock Skew / Glitch |
| 資料番号 | ICD200-91 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2001/8/31(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | DA変換器のタイミング誤差解析 : クロック・ジッタとタイミング・スキュー(グリッチ)の影響 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Timing Error Analysis in Digital-to-Analog Converter : Effects of Sampling Clock Jitter and Timing Skew(Glitch) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | DA変換器 / DAC |
| キーワード(2)（和/英） | サンプリング / Sanpling |
| キーワード(3)（和/英） | クロック・ジッタ / jitter |
| キーワード(4)（和/英） | クロック・スキュー / Clock Skew |
| キーワード(5)（和/英） | グリッチ / Glitch |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小林 春夫 / Haruo KOBAYASHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 群馬大学工学部電気電子工学科 Electronic Engineerig Department, Gunma University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 黒沢 直樹 / Naoki KUROSAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 群馬大学工学部電気電子工学科 Electronic Engineerig Department, Gunma University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 宮内 一行 / Ikkou MIYAUCHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 群馬大学工学部電気電子工学科 Electronic Engineerig Department, Gunma University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 川上 愼也 / Shinya KAWAKAMI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 群馬大学工学部電気電子工学科 Electronic Engineerig Department, Gunma University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 小暮 英行 / Hideyuki KOGURE |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 群馬大学工学部電気電子工学科 Electronic Engineerig Department, Gunma University |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 小室 貴紀 / Takanori KOMURO |
| 第 6 著者 所属（和/英） | アジレント・テクノロジー(株)シリコンシステム・テスト事業部 Agilent Technologies Japan, Ltd, Silicon-System Test Division |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 酒寄 寛 / Hiroshi SAKAYORI |
| 第 7 著者 所属（和/英） | アジレント・テクノロジー(株)シリコンシステム・テスト事業部 Agilent Technologies Japan, Ltd, Silucon-System Test Division |
| 発表年月日 | 2001/8/31 |
| 資料番号 | ICD200-91 |
| 巻番号（vol） | vol.101 |
| 号番号（no） | 282 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |