講演名 2000/1/19
リセスゲートおよび埋込みゲート構造GaAs MESFETにおけるゲートラグの解析
若林 朗, 三谷 恭隆, 堀尾 和重,
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抄録(和) リセスゲート構造および埋込みゲート構造GaAs MESFETのターンオン特性を2次元シミュレーションし、主に表面準位に起因すると考えられるゲートラグの構造パラメータ依存性およびOFF状態ゲート電圧V_依存性を調べた。その結果、V_がしきい値電圧(ピンチオフ電圧)V_近傍では、埋込みゲート構造とすることでゲートラグが著しく改善されることが示された。しかしながら、V_がV_より負で大きな場合には大きなゲートラグが生じうることが示唆された。
抄録(英) We have made two-dimensional simulation of turn-on characteristics in recessed-gate and buried-gate GaAs MESFETs, and studied how the gate-lag (which may occur mainly due to surface states) is affected by the structural parameters and the off-state gate voltage V_. It is shown that when V_ is around the threshold voltage (pinch-off voltage) V_, the gate-lag could be greatly reduced by introducing the buried-gate structure. However, it is suggested that the large gate-lag might be seen when V_ is much more negative than V_.
キーワード(和) ガリウム砒素電界効果トランジスタ / ゲートラグ / リセスゲート構造 / 埋込みゲート構造 / 表面準位 / デバイスシミュレーション
キーワード(英) GaAs MESFET / gate lag / recessed-gate structure / buried-gate structure / surface state / device simulation
資料番号 ED99-260,MW99-184,ICD99-235
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2000/1/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) リセスゲートおよび埋込みゲート構造GaAs MESFETにおけるゲートラグの解析
サブタイトル(和)
タイトル(英) Analysis of Gate-Lag Phenomena in Recessed-Gate and Buried-Gate GaAs MESFETs
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ガリウム砒素電界効果トランジスタ / GaAs MESFET
キーワード(2)(和/英) ゲートラグ / gate lag
キーワード(3)(和/英) リセスゲート構造 / recessed-gate structure
キーワード(4)(和/英) 埋込みゲート構造 / buried-gate structure
キーワード(5)(和/英) 表面準位 / surface state
キーワード(6)(和/英) デバイスシミュレーション / device simulation
第 1 著者 氏名(和/英) 若林 朗 / A. Wakabayashi
第 1 著者 所属(和/英) 芝浦工業大学システム工学部
Faculty of Systems Engineering, Shibaura Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 三谷 恭隆 / Y. Mitani
第 2 著者 所属(和/英) 芝浦工業大学システム工学部
Faculty of Systems Engineering, Shibaura Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 堀尾 和重 / K. Horio
第 3 著者 所属(和/英) 芝浦工業大学システム工学部
Faculty of Systems Engineering, Shibaura Institute of Technology
発表年月日 2000/1/19
資料番号 ED99-260,MW99-184,ICD99-235
巻番号(vol) vol.99
号番号(no) 559
ページ範囲 pp.-
ページ数 7
発行日