講演名 1999/7/23
1Gbit DDR SDRAM for Low Voltage and High Speed Application (Invited)
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抄録(和)
抄録(英) A double data rate at 333Mb/s/pin is achieved for a 2.5V 1Gb synchronous DRAM in a 0.14μm process. The large density of integration and severe device fluctuation present challenges in dealing with the on-chip skews, packaging and processing technology. Circuit techniques and schemes of ODIC chip with non-ODIC package, cycle-time adaptive wave pipelining, and variable stage analog DLL with the three-input phase detector can provide precise skew controls and increased tolerance to processing variations. Double data rate as a viable high-speed and low-voltage DRAM I/O interface is demonstrated.
キーワード(和)
キーワード(英) double data rate (DDR) / delay locked loop (DLL) / phase detector / wave pipeline / low voltage / high speed / DRAM / SDRAM / CMOS
資料番号 ICD99-107
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 1999/7/23(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) 1Gbit DDR SDRAM for Low Voltage and High Speed Application (Invited)
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / double data rate (DDR)
第 1 著者 氏名(和/英) / Hongil Yoon
第 1 著者 所属(和/英)
Memory Product and Technology Division, Samsung Electronics
発表年月日 1999/7/23
資料番号 ICD99-107
巻番号(vol) vol.99
号番号(no) 234
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日