講演名 | 1999/7/23 1Gbit DDR SDRAM for Low Voltage and High Speed Application (Invited) , |
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抄録(和) | |
抄録(英) | A double data rate at 333Mb/s/pin is achieved for a 2.5V 1Gb synchronous DRAM in a 0.14μm process. The large density of integration and severe device fluctuation present challenges in dealing with the on-chip skews, packaging and processing technology. Circuit techniques and schemes of ODIC chip with non-ODIC package, cycle-time adaptive wave pipelining, and variable stage analog DLL with the three-input phase detector can provide precise skew controls and increased tolerance to processing variations. Double data rate as a viable high-speed and low-voltage DRAM I/O interface is demonstrated. |
キーワード(和) | |
キーワード(英) | double data rate (DDR) / delay locked loop (DLL) / phase detector / wave pipeline / low voltage / high speed / DRAM / SDRAM / CMOS |
資料番号 | ICD99-107 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ICD |
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開催期間 | 1999/7/23(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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本文の言語 | ENG |
タイトル(和) | |
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タイトル(英) | 1Gbit DDR SDRAM for Low Voltage and High Speed Application (Invited) |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | / double data rate (DDR) |
第 1 著者 氏名(和/英) | / Hongil Yoon |
第 1 著者 所属(和/英) | Memory Product and Technology Division, Samsung Electronics |
発表年月日 | 1999/7/23 |
資料番号 | ICD99-107 |
巻番号(vol) | vol.99 |
号番号(no) | 234 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |