講演名 1994/11/24
ディジタルフィルタリングによるテスト用アナログ波形の発生方法
野田 寛, 近藤 晴房, 多田 哲生,
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抄録(和) ミックスドシグナルLSIのファンクションテストに必要な反射となまりを付加した入力波形データの発生方法を開発した。本手法は通信線のインパルス応答や規定された入力波形図の微分からフィルタ係数を得てテストパターンの論理データとFIRフィルタリングを行う方法である。これにより、従来の入力波形図から電圧データを読取り電圧リストを生成する方法と比較して1, 100の時間短縮と±3.7%の波形生成誤差で実現でき、ITU-T勧告I.430の波形を満足する。
抄録(英) For the functional testing of mixed-signal LSIs,it is very important to characterize and test tht LSI with complex input signal waveforms which represent degradation by an actual telecommunication line.A new efficient method to generate degraded waveforms,additional reflections,and distortions caused by the telecommunication line is described.The method is based on the Finite Impulse Response (FIR) filtering which obtains digital calculation of filter coefficients and square shaped ideal input pulses.The filter coefficients are derived from differentiating the step response of the telecommunication line,i.e.the degraded waveform of the isolated pulse.The square shaped ideal input pulses are easily derived from the digital test pattern.The time required to generate the degraded input waveforms was about 100 times faster than the conventional method.This method has satisfied the degraded input waveforms of the spcified by the ITU- T recommendation I.430.
キーワード(和) 入力波形データ / 反射 / なまり / FIRフィルタリング / フィルタ係数
キーワード(英) input signal waveform / reflection / distortion / FIR filtering / filter coefficient
資料番号 ICD94-142
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 1994/11/24(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ディジタルフィルタリングによるテスト用アナログ波形の発生方法
サブタイトル(和)
タイトル(英) Method of Test Analog-Waveform Synthesis Based on Digital Filtering for Mixed-Signal LSI
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 入力波形データ / input signal waveform
キーワード(2)(和/英) 反射 / reflection
キーワード(3)(和/英) なまり / distortion
キーワード(4)(和/英) FIRフィルタリング / FIR filtering
キーワード(5)(和/英) フィルタ係数 / filter coefficient
第 1 著者 氏名(和/英) 野田 寛 / Hiroshi Noda
第 1 著者 所属(和/英) 三菱電機システムLSI開発研究所
System LSI Laboratory,Mitsubishi Electric Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 近藤 晴房 / Harufusa Kondoh
第 2 著者 所属(和/英) 三菱電機システムLSI開発研究所
System LSI Laboratory,Mitsubishi Electric Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) 多田 哲生 / Tetsuo Tada
第 3 著者 所属(和/英) 三菱電機システムLSI開発研究所
System LSI Laboratory,Mitsubishi Electric Corporation
発表年月日 1994/11/24
資料番号 ICD94-142
巻番号(vol) vol.94
号番号(no) 360
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日