講演名 1994/11/24
テスト技術開発の効率化を目的としたテストシミュレーション技術の開発
篠永 直之, 古江 勝也, 出口 善宣, 堀江 克典, 松井 祐司, 高木 亮一, 多田 哲生,
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抄録(和) LSIの高速・多ピン・ファインピッチ比に伴い、テスト環境の影響により発生するノイズが増大しテスト不具合件数が増加すると予測される。それによりテスト技術開発の検証工期が延びチップ開発工期の長大化が予測される。そこで、テスト設計段階で事前にテストを精度よく検証し、不具合改善に有効なテストシミュレーション手法(チップ・パッケージ・ソケト・ボード・テスタのテスト系全体のシミュレーション)の検討を行った。これまで精度のよい電気特性モデルの入手が困難であったソケットのモデリング手法として伝送線路シミュレータを使用した分割モデリング手法を適用することで、電気特性の実測値に対し10%以内の精度を得ることができ、実測とよく一致したテストシミュレーション結果をえることができた。
抄録(英) More noise which depends on the test enviroment,causes more test troubles due to higer speed,higher pin count,finer pitch LSI.And checking of the test engineering development takes more time,the designing of LSI will be delayed.So we propose test simulation method(test system simulation which consists of a chip,a package,a socket,a board and a tester).This method is effective on the test design(fixture design and test circuit design)for checking test accurately and solving test problems in advance.It is difficult to get accurate simulation model,but the simulation accuracy compared to the measurement is within 10% on using sectioned socket modeling by the transmission line simulator.
キーワード(和) テストシミュレーション / 伝送線路シミュレータ / 電気特性モデル / 分割モデルリング手法
キーワード(英) Test simulation / Simulation model / Transmission line simulator / Sectioned socket modeling
資料番号 ICD94-141
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 1994/11/24(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) テスト技術開発の効率化を目的としたテストシミュレーション技術の開発
サブタイトル(和)
タイトル(英) The development of test simulation for efficient test engineering
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) テストシミュレーション / Test simulation
キーワード(2)(和/英) 伝送線路シミュレータ / Simulation model
キーワード(3)(和/英) 電気特性モデル / Transmission line simulator
キーワード(4)(和/英) 分割モデルリング手法 / Sectioned socket modeling
第 1 著者 氏名(和/英) 篠永 直之 / Naoyuki Shinonaga
第 1 著者 所属(和/英) 三菱電機北伊丹製作所
Kita-Itami Works,Mitsubishi Electric Corp.
第 2 著者 氏名(和/英) 古江 勝也 / Katsuya Furue
第 2 著者 所属(和/英) 三菱電機北伊丹製作所
Kita-Itami Works,Mitsubishi Electric Corp.
第 3 著者 氏名(和/英) 出口 善宣 / Yoshinori Deguchi
第 3 著者 所属(和/英) 三菱電機北伊丹製作所
Kita-Itami Works,Mitsubishi Electric Corp.
第 4 著者 氏名(和/英) 堀江 克典 / Katsunori Horie
第 4 著者 所属(和/英) 三菱電機北伊丹製作所
Kita-Itami Works,Mitsubishi Electric Corp.
第 5 著者 氏名(和/英) 松井 祐司 / Yuuji Matsui
第 5 著者 所属(和/英) 三菱電機北伊丹製作所
Kita-Itami Works,Mitsubishi Electric Corp.
第 6 著者 氏名(和/英) 高木 亮一 / Ryouichi Takagi
第 6 著者 所属(和/英) 三菱電機システムLSI研究所
System LSI Laboratory,Mitsubishi Electric Corp.
第 7 著者 氏名(和/英) 多田 哲生 / Tetsuo Tada
第 7 著者 所属(和/英) 三菱電機システムLSI研究所
System LSI Laboratory,Mitsubishi Electric Corp.
発表年月日 1994/11/24
資料番号 ICD94-141
巻番号(vol) vol.94
号番号(no) 360
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日