| 講演名 | 1994/11/24 カオスを応用した論理回路の組み込み自己テスト 川島 毅, 田中 裕章, 秋田 成行, 服部 正, |
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| 抄録(和) | カオス現象を利用した組み合わせ論理回路の自己組み込みテスト法を提案する。提案する手法は、付加したテスト回路と被テスト回路とでフィードバック系を構成し、このフィードバック系を離散カオス系とすることにより、テスト回路内でランダムパターン発生と出力パターン圧縮を同時に行うものである。本手法ではテスト回路を簡単に構成でき、従来の線形フィードバックシフトレジスタ回路およびシグネチャ回路を用いる手法に比べて、テスト用付加回路面積を大幅に削減することができる。本手法を16ビット2進乗算回路に適用した結果、テスト回路面積を従来の1, 3に低減させることができた。 |
| 抄録(英) | We propose a Built-in Self Test method for the logical combinational circuit based on chaotic phenomena.A test circuit is added to the CUT so that the feedback system which consists of the test circuit and the CUT shows chaotic behavior.This chaotic behavior guarantees that the generated test signals are random patterns,and that this patterns contain the information about afl the errors detected throughout test.The proposed method can reduce the area overhead without losing fault coverage compared with existing methods such as LFSR's and signature registers.This method is applied to an experimental 16bit-binary-multiplier,and overhead is about one third of that of existing methods. |
| キーワード(和) | 組み込み自己テスト / カオス / フィードバック系 / ランダムパターン |
| キーワード(英) | Built-in self Test / Chaos / Feedback system / Random patterns |
| 資料番号 | ICD94-139 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 1994/11/24(から1日開催) |
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| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | カオスを応用した論理回路の組み込み自己テスト |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Built-in Self Test Based on Chaotic Phenomena |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組み込み自己テスト / Built-in self Test |
| キーワード(2)（和/英） | カオス / Chaos |
| キーワード(3)（和/英） | フィードバック系 / Feedback system |
| キーワード(4)（和/英） | ランダムパターン / Random patterns |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 川島 毅 / Takeshi Kawashima |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本電装基礎研究所 Research Laboratories,Nippondenso |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 田中 裕章 / Hiroaki Tanaka |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電装基礎研究所 Research Laboratories,Nippondenso |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 秋田 成行 / Shigeyuki Akita |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本電装基礎研究所 Research Laboratories,Nippondenso |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 服部 正 / Tadashi Hatori |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 日本電装基礎研究所 Research Laboratories,Nippondenso |
| 発表年月日 | 1994/11/24 |
| 資料番号 | ICD94-139 |
| 巻番号（vol） | vol.94 |
| 号番号（no） | 360 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |