講演名 | 1994/11/24 CMOS SRAMの書き込み時静的電源電流測定による故障検出法 多賀 清成, 橋爪 正樹, 小山 健, 為貞 建臣, |
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抄録(和) | CMOS SRAMの書き込み時静的電源電流測定による故障検出法を提案し、その故障検出能力評価を調べるため故障検出実験を行った。その実験では本手法で論理値変化を生じるすべての故障ICを検出できなかった。しかし本手法は大幅に検査入力数を減らすことができ、さらに故障ICの約60%は本手法で検出できことから、機能検査の予備テストとして利用すれば、高速に機能検査が行えることがわかった。 |
抄録(英) | In this paper,a fault detection method for CMOS static RAM is proposed.The method is based on quiescent supply current,which flows during the write operation.From some experiments,it is found that the 60% of faulty SRAM ICs can be detectded by the method. Since the number of the test input vector can be decrease drastically,it is shown that if the method is used before any functional testing,the results of the functional testing can be obtained more quickly. |
キーワード(和) | CMOS / SRAM / 電流計測テスト / 機能検査 / I_DDQ> |
キーワード(英) | CMOS / SRAM / supply current test / functional test / I_DDQ> |
資料番号 | ICD94-138 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ICD |
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開催期間 | 1994/11/24(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | CMOS SRAMの書き込み時静的電源電流測定による故障検出法 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Fault detection of CMOS static RAM based on quiescent supply current during write operation |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | CMOS / CMOS |
キーワード(2)(和/英) | SRAM / SRAM |
キーワード(3)(和/英) | 電流計測テスト / supply current test |
キーワード(4)(和/英) | 機能検査 / functional test |
キーワード(5)(和/英) | I_DDQ> / I_DDQ> |
第 1 著者 氏名(和/英) | 多賀 清成 / Kiyoshige Taga |
第 1 著者 所属(和/英) | 徳島大学工学部 Faculty of Engineering,The University of Tokushima |
第 2 著者 氏名(和/英) | 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume |
第 2 著者 所属(和/英) | 徳島大学工学部 Faculty of Engineering,The University of Tokushima |
第 3 著者 氏名(和/英) | 小山 健 / Takeshi Koyama |
第 3 著者 所属(和/英) | 徳島文理大学工学部 Faculty of Engineering,Tokushima Bunri University |
第 4 著者 氏名(和/英) | 為貞 建臣 / Takeomi Tamesada |
第 4 著者 所属(和/英) | 徳島大学工学部 Faculty of Engineering,The University of Tokushima |
発表年月日 | 1994/11/24 |
資料番号 | ICD94-138 |
巻番号(vol) | vol.94 |
号番号(no) | 360 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 8 |
発行日 |