| 講演名 | 1998/12/11 混載DRAMの共通テストインターフェス 福田 良, 宮野 信治, 佐藤 勝彦, 沼田 健二, |
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| 抄録(和) | 混載DRAMでは、リコンフィギュアブルマクロを使って、ロウやカラムの構成や1チップ当たりのマクロ数の異なった製品が展開されている。従来のダイレクトアクセスモードを使ったテスト手法では、製品毎に異なるテスト環境を作らねばならず、多製品の展開が難しい。このため、どのような製品でも同じ環境でテストできる共通のテストインターフェスを開発した。この共通テストインターフェスを用いることにより、混載DRAMマクロのテストを容易に標準化できる。 |
| 抄録(英) | This paper describes circuitry for facilitating the test of embedded DRAM macro whose configuration can be easily changed(reconfigurable macro). It is difficult to use conventional direct access mode circuitry, because the configuration of embedded DRAMs on a chip is varied for each product, and therefor the test circuitry should be customized for each product. The proposed test circuits implemented in the macro provide a Universal Test Interface regardless of the DRAM configuration and the number of macros on a chip. |
| キーワード(和) | 混載DRAMマクロ / リコンフィギュアブルマクロ / テスト / 共通のテストインターフェス |
| キーワード(英) | Embedded DRAM mocro / reconfigurable macro / Test / universal Test Interface |
| 資料番号 | CPM98-165,ICD98-244 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 1998/12/11(から1日開催) |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 混載DRAMの共通テストインターフェス |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Universal Test Interface for embedded DRAM testing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 混載DRAMマクロ / Embedded DRAM mocro |
| キーワード(2)（和/英） | リコンフィギュアブルマクロ / reconfigurable macro |
| キーワード(3)（和/英） | テスト / Test |
| キーワード(4)（和/英） | 共通のテストインターフェス / universal Test Interface |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 福田 良 / Ryo Fukuda |
| 第 1 著者 所属（和/英） | (株)東芝 Toshiba Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 宮野 信治 / Shinji Miyano |
| 第 2 著者 所属（和/英） | (株)東芝 Toshiba Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 佐藤 勝彦 / Katsuhiko Sato |
| 第 3 著者 所属（和/英） | (株)東芝 Toshiba Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 沼田 健二 / Kenji Numata |
| 第 4 著者 所属（和/英） | (株)東芝 Toshiba Corporation |
| 発表年月日 | 1998/12/11 |
| 資料番号 | CPM98-165,ICD98-244 |
| 巻番号（vol） | vol.98 |
| 号番号（no） | 459 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | |