| 講演名 | 1998/12/11 250MHz超える高速DRAMのAt-Speed test評価技術 野路 宏行, 串山 夏樹, |
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| 抄録(和) | 18M Base版Rambus DRAMをモチーフに、高速DRAM評価の手法及び注意点などを報告する。その技術を応用し、waferでの高速評価の実験を行った。その結果、waferにて250MHz以上の動作周波数の確認できたことも報告する。 |
| 抄録(英) | Methods and notes for testing of high-speed DRAMs are described. A special probe card has been manufactured and an unassembled 18Mbit Rambus DRAM has been measured with the probe card and confirmed that the chip operated over 250MHz. |
| キーワード(和) | ラムバスDRAM / 高速テスト / 高速テスタ / キャリブレーション / テスト回路 |
| キーワード(英) | Rambus DRAM / Hi-speed testing / Hi-speed tester / A metod of Caliburation / Test circuits |
| 資料番号 | CPM98-164,ICD98-243 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 1998/12/11(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 250MHz超える高速DRAMのAt-Speed test評価技術 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A method for At-speed testing with over 250MHz Hi-speed DRAM |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ラムバスDRAM / Rambus DRAM |
| キーワード(2)（和/英） | 高速テスト / Hi-speed testing |
| キーワード(3)（和/英） | 高速テスタ / Hi-speed tester |
| キーワード(4)（和/英） | キャリブレーション / A metod of Caliburation |
| キーワード(5)（和/英） | テスト回路 / Test circuits |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 野路 宏行 / Hiroyuki Noji |
| 第 1 著者 所属（和/英） | (株)東芝マイクロエレクトロニクス Toshiba Microelectronics Corp. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 串山 夏樹 / Natsuki Kushiyama |
| 第 2 著者 所属（和/英） | (株)東芝メモリー事業部 Memory Division, Toshiba Corp. |
| 発表年月日 | 1998/12/11 |
| 資料番号 | CPM98-164,ICD98-243 |
| 巻番号（vol） | vol.98 |
| 号番号（no） | 459 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |