講演名 1995/12/14
混在信号LSIに対する電流テスト用入力の比較解析
三浦 幸也,
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抄録(和) 電流テストを用いて混在信号LSI(A/Dコンバータ)をテストするためのテスト用入力について検討する。使用した電流テストはテスト用入力印加中の電源電流の積分値を計測する。本論文の第一の目的は実時間の電流テスト,すなわちテスト結果(計測した電流)から直ちに被テスト回路が正常か否かの判定ができるテスト用入力を求めることである。 SPICEシミュレータを用いて解析した結果, ステップ電圧入力を印加することで実時間での電流テストが可能であることが判明Lた。
抄録(英) This paper describes the comparison of input stimuli as a means of testing mixed-signal circuits. Current testing that measures the integral of the power supply current in the time-domain is used to detect faults. The main objective is to achieve real-time testing in which there is no need to analyze the results of testing. Simulation results show that a step-voltage input stimulus is effective for detection of bridging and breaking faults in an A/D converter. Since this input signal allows the current to be measured at discrete time intervals, it is applicable for real-time current testing and can be used for built-in test and production test.
キーワード(和) 電流テスト / テスト用入力 / 実時間テスト / 混在信号LSI / A/Dコシバータ
キーワード(英) Current testing / Input stimuli / Real-time testing / Mixed-signal LSIs / A/D converters
資料番号 ICD95-189
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 1995/12/14(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 混在信号LSIに対する電流テスト用入力の比較解析
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Comparative Analysis of Input Stimuli for Testing Mixed-Signal LSIs Based on Current Testing
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 電流テスト / Current testing
キーワード(2)(和/英) テスト用入力 / Input stimuli
キーワード(3)(和/英) 実時間テスト / Real-time testing
キーワード(4)(和/英) 混在信号LSI / Mixed-signal LSIs
キーワード(5)(和/英) A/Dコシバータ / A/D converters
第 1 著者 氏名(和/英) 三浦 幸也 / Yukiya MIURA
第 1 著者 所属(和/英) 東京都立大学工学部電子・情報工学科
Department of Electronics and Information Engineering, Tokyo Metropolitan University
発表年月日 1995/12/14
資料番号 ICD95-189
巻番号(vol) vol.95
号番号(no) 426
ページ範囲 pp.-
ページ数 7
発行日