| 講演名 | 1995/12/14 10-bit A/Dコンバータを内蔵したアナ/デシ混在LSIのアナログIDDQテスト方法 野田 寛, 伊藤 正雄, 熊本 敏夫, 多田 哲生, 角 正, |
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| 抄録(和) | 10ビットA/Dコンバータ(ADC)を内蔵したアナ/デシ混在LSIの外部テストピンを使用せずにADCセルのファンクションエラーを検出するためのアナログIDDQテスト方法(Jagged Waveform Method: JW法)について述べる。この方法はアナログ電源に現れたのこぎり形状(Jagged Waveform)の電流波形を測定し、理想的な(正常状態の)電源電流波形と比較することで実現される。理想的な電源電流波形は、ADCセル内の1個のコンパレータの出力が変化したときの電源電流の差から得ることができる。この方法を10-bitサブレンジングADCセルに適用することにより、スイッチ接続不良等のファンクションエラーが外部テストピンを使用せずに検出できた。これにより、アナ/デシ混在LSIの外部テストピンは不要になり、チップ/パッケージサイズとLSIコストが減少する。 |
| 抄録(英) | An analog IDDQ testing (Jagged Waveform) method to detect a function error of A/D converter cell without external test pins of a mixed-signal LSI including A/D converter is described. This proposal realizes a comparison between the measured power-supply current waveform and the ideal power-supply current waveform. The ideal power-supply current waveform is obtained from the difference of supply current of one comparator in the A/D converter depending on the comparator's output level. Applying the analog IDDQ testing method to a subranging A/D converter cell with 31 comparators [4], the function errors of the A/D converter, such as switch connection fault and comparator's function fault, have been detected successfully without the external test pins. Analog IDDQ testing method makes the use of external test pins unnecessary, and decreases the package size and LSI cost. |
| キーワード(和) | アナログ電源電流測定法 / 電源電流波形 / サブレンジングA/Dコンパータ |
| キーワード(英) | Analog IDDQ testing method / Power-supply current waveform / subranging A/D converter |
| 資料番号 | ICD95-188 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 1995/12/14(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 10-bit A/Dコンバータを内蔵したアナ/デシ混在LSIのアナログIDDQテスト方法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analog IDDQ Testing Method for Mixed-signal LSI Including 10-bit A/D Converter |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | アナログ電源電流測定法 / Analog IDDQ testing method |
| キーワード(2)（和/英） | 電源電流波形 / Power-supply current waveform |
| キーワード(3)（和/英） | サブレンジングA/Dコンパータ / subranging A/D converter |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 野田 寛 / Hiroshi Noda |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社システムLSI開発研究所 System LSI Laboratory Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 伊藤 正雄 / Masao Ito |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社システムLSI開発研究所 System LSI Laboratory Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 熊本 敏夫 / Toshio Kumamoto |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社システムLSI開発研究所 System LSI Laboratory Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 多田 哲生 / Tetsuo Tada |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社システムLSI開発研究所 System LSI Laboratory Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 角 正 / Tadashi Sumi |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社システムLSI開発研究所 System LSI Laboratory Mitsubishi Electric Corporation |
| 発表年月日 | 1995/12/14 |
| 資料番号 | ICD95-188 |
| 巻番号（vol） | vol.95 |
| 号番号（no） | 426 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | |