| 講演名 | 1995/12/14 CADリンクEBテストシステムによるVLSI故障診断の新技法 藤岡 弘, 中前 幸冶, 三浦 克介, |
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| 抄録(和) | CADリンクEBテストシステムにおいて、VLSIの故障追跡は従来セルあるいはゲートレベルで行なわれてきたが、1)性能故障に対してはトランジスタレベルでの故障個所の同定が要求され、また、2)CADデータを準備するための時間を極力短縮することが要求されている。本論文では、これらの問題を解決するための新しい技法として、1)トランジスタレベルで自動故障追跡をする手法、2)CADレイアウトから故障追跡に必要な回路情報を逐次抽出しこれを用いて自動故障追跡をする手法について述べている。 |
| 抄録(英) | Recently, it becomes necessary to trace the fault in the transistor-level to search the cause of performance faults, although a gate-level fault or a cell-level fault has mainly been treated in the testing process with the CAD-linked EB test system. One of another urgent problems in the system is the shortening of the time required for arrangement of CAD data. Two algorithms in order to meet these problems, an automatic transistor-level performance fault tracing algorithm and an automatic fault tracing method by successive circuit extraction from CAD layout data are described. |
| キーワード(和) | VLSI / 故障追跡 / EBテストシステム / CADリンク |
| キーワード(英) | VLSI / fault tracing / testing / EB test system / CAD-link |
| 資料番号 | ICD95-187 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 1995/12/14(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | CADリンクEBテストシステムによるVLSI故障診断の新技法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A New Approach for VLSI Testing with CAD-Linked Electron Beam Test System |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | VLSI / VLSI |
| キーワード(2)（和/英） | 故障追跡 / fault tracing |
| キーワード(3)（和/英） | EBテストシステム / testing |
| キーワード(4)（和/英） | CADリンク / EB test system |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 藤岡 弘 / Hiromu FUJIOKA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大阪大学工学部情報システムエ学科 Department of Information Systems Engineering, Faculty of Engineering, Osaka University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 中前 幸冶 / Koji NAKAMAE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大阪大学工学部情報システムエ学科 Department of Information Systems Engineering, Faculty of Engineering, Osaka University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 三浦 克介 / Katsuyoshi MIURA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 大阪大学工学部情報システムエ学科 Department of Information Systems Engineering, Faculty of Engineering, Osaka University |
| 発表年月日 | 1995/12/14 |
| 資料番号 | ICD95-187 |
| 巻番号（vol） | vol.95 |
| 号番号（no） | 426 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |