講演名 1993/10/22
2/3インチ40万画素低残像積層型CCDイメージセンサー
佐々木 道夫, 井原 久典, 松長 誠之,
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抄録(和) アモルファスシリコン積層型CCDイメージセンサーは高感度,低スミアという優れた特性を有する一方で,高輝度の被写体を撮像した時に生じる高輝度残像と,逆バイアスされた蓄積ダイオードで発生するリーク電流による団体パターン雑音という2つの課題が残っていた。今回筆者等は,アモルファスシリコン内にバイアス電荷を注入して,内部のエネルギー準位を予め不活性化させるとにより,高輝度残像を視認限界以下に抑圧することができた。また,センサーレイアウトをFIT構造とすることで,蓄積ダイオードの逆バイアス電圧0.6Vに減少させることが可能になり,固定パターン雑音を従来の1, 10の30電子_p-p>に低減することができた。
抄録(英) A 2, 3 inch 400k pixel Frame Interline Transfer CCD overlaid with amorphous silicon photoconversion layer utiliges bias-charge injection to suppress image sticking below the ditection limit 20th field after 10,000x times standard incident illumination. The sensor achieves an fixed pattern noise of 30 electrons_p-p> at 60℃ with 0.6V reverse biased storage diode.
キーワード(和) CCD / アモルファスシリコン / 高輝度残像 / 固定パターン雑音
キーワード(英) CCD / Amorphous Silicon / Image Sticking / Fixed Pattern Noise
資料番号 ICD93-122
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 1993/10/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 2/3インチ40万画素低残像積層型CCDイメージセンサー
サブタイトル(和)
タイトル(英) A 2/3″ 400k Pixel Sticking-Free Stack-CCD Image Sensor.
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) CCD / CCD
キーワード(2)(和/英) アモルファスシリコン / Amorphous Silicon
キーワード(3)(和/英) 高輝度残像 / Image Sticking
キーワード(4)(和/英) 固定パターン雑音 / Fixed Pattern Noise
第 1 著者 氏名(和/英) 佐々木 道夫 / Michio Sasaki
第 1 著者 所属(和/英) 東芝研究開発センターULSI研究所
ULSI Laboratories Research and Development Center,TOSHIBA Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 井原 久典 / Hisanori Ihara
第 2 著者 所属(和/英) 東芝研究開発センター材料デバイス研究所
Material and Device Laboratories,R&D Center TOSHIBA Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) 松長 誠之 / Yoshiyuki Matsunaga
第 3 著者 所属(和/英) 東芝研究開発センターULSI研究所
ULSI Laboratories Research and Development Center,TOSHIBA Corporation
発表年月日 1993/10/22
資料番号 ICD93-122
巻番号(vol) vol.93
号番号(no) 288
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日