講演名 1997/10/28
サブクオータミクロン時代のLSI設計技術
山品 正勝,
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抄録(和) サブ0.25μmLSIの設計課題として、配線設計、アナデジ混在設計、上位レベルでの設計について述べた。LSIのスケーリングメリットの維持、つまり性能の改善のためには、設計者が保有していた知識やノウハウ、すなわち設計手法をCADに隠蔽していくことが重要である。
抄録(英) This paper describes sub-0.25μm LSI design issues, such as interconnect design, analog-digital mixed design and high-level design. It is important for keeping scaling-scenario of LSI to develop novel CAD tools having expert design methodology.
キーワード(和) LSI設計 / CAD / 配線 / アナログーデジタル / 上位レベル
キーワード(英) LSI design / CAD / interconnect / analog-digital design / high-level design
資料番号 ICD97-173
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 1997/10/28(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) サブクオータミクロン時代のLSI設計技術
サブタイトル(和)
タイトル(英) Prospect of Sub-Quarter Micron LSI Design
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) LSI設計 / LSI design
キーワード(2)(和/英) CAD / CAD
キーワード(3)(和/英) 配線 / interconnect
キーワード(4)(和/英) アナログーデジタル / analog-digital design
キーワード(5)(和/英) 上位レベル / high-level design
第 1 著者 氏名(和/英) 山品 正勝 / Masakazu Yamashina
第 1 著者 所属(和/英) NECシリコンシステム研究所 システムULSI研究部
System-ULSI Research Laboratory Silicon Systems Research Laboratories NEC Corporation
発表年月日 1997/10/28
資料番号 ICD97-173
巻番号(vol) vol.97
号番号(no) 345
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日