講演名 | 1997/10/16 500MHz動作4Mb CMOSキャッシュSRAM 武田 晃一, 中村 和之, 豊島 秀雄, 野田 研二, 大窪 宏明, 内田 哲弥, 清水 俊行, 井谷 俊郎, 渡嘉敷 健, 岸本 光司, |
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抄録(和) | 32bで500MHz、non-idle Cycle、4-1-1-1動作の4Mb Pipeline-BurstキャッシュSRAMを0.25umCMOSプロセスを用いて開発した。キー技術は (1)新規プリフェッチバースト方式により、SRAMコアの動作サイクル時間を外部サイクル時間の4倍に緩和して、idle-cycleのない 500MHz外部データバスの動作を実現したこと、(2)ソースリセット方式により、内部SRAMコア自身の遅延時間を短縮、パワーを削減したこと、(3)ノイズ削減コーディングにより、外部データバス駆動時のスイッチングノイズとパワーを削減し、さらに双方向化を可能とする 500MHz I/O回路を開発したこと、(4)プッシュプル出力バッファの出力インピーダンスを伝送線路のインピーダンスにマッチングさせた、高速駆動と低パワーを両立する Point-to-PointのI/Oを開発したこと, である。 |
抄録(英) | A secondary cache SRAM is an indispensable CPU partner in a high-performance system. The main objectives are 1) pipeline-burst operation, 2) 32b 500MHz (2GB/s) I/Os, and 3) point-to-point communication with a CPU, as well as shortened latency and reduced noise and power caused by high-speed, high-bandwidth I/O operation. |
キーワード(和) | キャッシュメモリ / SRAM / 高速化 / インタフェース / バスバンド幅 |
キーワード(英) | Cache / SRAM / High-speed / Interface / Bandwidth |
資料番号 | ICD97-150-158 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ICD |
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開催期間 | 1997/10/16(から1日開催) |
開催地(和) | |
開催地(英) | |
テーマ(和) | |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | |
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幹事氏名(和) | |
幹事氏名(英) | |
幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 500MHz動作4Mb CMOSキャッシュSRAM |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | A 500MHz 4Mb CMOS Pipeline-Burst Cache SRAM |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | キャッシュメモリ / Cache |
キーワード(2)(和/英) | SRAM / SRAM |
キーワード(3)(和/英) | 高速化 / High-speed |
キーワード(4)(和/英) | インタフェース / Interface |
キーワード(5)(和/英) | バスバンド幅 / Bandwidth |
第 1 著者 氏名(和/英) | 武田 晃一 / Koichi Takeda |
第 1 著者 所属(和/英) | NECシリコンシステム研究所 Silicon Systems Research Labs. |
第 2 著者 氏名(和/英) | 中村 和之 / Kazuyuki Nakamura |
第 2 著者 所属(和/英) | NECシリコンシステム研究所 Silicon Systems Research Labs. |
第 3 著者 氏名(和/英) | 豊島 秀雄 / Hideo Toyoshima |
第 3 著者 所属(和/英) | NECシリコンシステム研究所 Silicon Systems Research Labs. |
第 4 著者 氏名(和/英) | 野田 研二 / Kenji Noda |
第 4 著者 所属(和/英) | NEC ULSIデバイス開発研究所 ULSI Device Development Labs. |
第 5 著者 氏名(和/英) | 大窪 宏明 / Hiroaki Ohkubo |
第 5 著者 所属(和/英) | NEC ULSIデバイス開発研究所 ULSI Device Development Labs. |
第 6 著者 氏名(和/英) | 内田 哲弥 / Tetsuya Uchida |
第 6 著者 所属(和/英) | NEC ULSIデバイス開発研究所 ULSI Device Development Labs. |
第 7 著者 氏名(和/英) | 清水 俊行 / Toshiyuki Shimizu |
第 7 著者 所属(和/英) | NEC 第2メモリ事業部 Second LSI Memory Div., NEC Corporation |
第 8 著者 氏名(和/英) | 井谷 俊郎 / Toshiro Itani |
第 8 著者 所属(和/英) | NEC ULSIデバイス開発研究所 ULSI Device Development Labs. |
第 9 著者 氏名(和/英) | 渡嘉敷 健 / Ken Tokashiki |
第 9 著者 所属(和/英) | NEC ULSIデバイス開発研究所 ULSI Device Development Labs. |
第 10 著者 氏名(和/英) | 岸本 光司 / Koji Kishimoto |
第 10 著者 所属(和/英) | NEC ULSIデバイス開発研究所 ULSI Device Development Labs. |
発表年月日 | 1997/10/16 |
資料番号 | ICD97-150-158 |
巻番号(vol) | vol.97 |
号番号(no) | 318 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 8 |
発行日 |