| 講演名 | 1997/8/22 マクロスコピック基板雑音モデルを用いたAD混載LSIの雑音検証法 永田 真, 山本 恭裕, 岩田 穆, |
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| 抄録(和) | マクロスコピック基板雑音モデルを提案し、AD混載シミュレーション環境に実装した。基板雑音がAD混載LSI性能に及ぼす影響をチップレベルで検証できる。モデルは、基板雑音をデジタルプロックの遷移確率の連続関数として表し、AnalogHDLにより記述している。デジタル雑音源と結合した2次ΔΣAD変換器について、基板雑音による性能劣化を時間領域のシミュレーションで再現した。 |
| 抄録(英) | A macroscopic substrate noise model is proposed and implemented in the mixed signal simulation environment. The model enables full chip verification of the substrate noise effect on chip performance in mixed-signal VLSIs. The model describes the substrate noise in AnalogHDL as a continuous function of transition probabilities in the digital partitions. Performance degradation of 2nd order ΔΣADC due to the noise is clearly simulated by transient analysis. |
| キーワード(和) | AD混載LSI / クロストーク雑音 / アナログHDL / AD混載シミュレーション / ΔΣADC |
| キーワード(英) | Mixed Signal LSI / Cross Talk Noise / AnalogHDL / Mixed Signal Simulation / ΔΣADC |
| 資料番号 | ICD97-111 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 1997/8/22(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | マクロスコピック基板雑音モデルを用いたAD混載LSIの雑音検証法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Macroscopic Substrate Noise Model for Full Chip Mixed-Signal Design Verification |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | AD混載LSI / Mixed Signal LSI |
| キーワード(2)（和/英） | クロストーク雑音 / Cross Talk Noise |
| キーワード(3)（和/英） | アナログHDL / AnalogHDL |
| キーワード(4)（和/英） | AD混載シミュレーション / Mixed Signal Simulation |
| キーワード(5)（和/英） | ΔΣADC / ΔΣADC |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 永田 真 / Makoto Nagata |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 広島大学工学部 Faculty of Engineering, Hiroshima University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山本 恭裕 / Yasuhiro Yamamoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 広島大学工学部:(現)日本システムウェア Faculty of Engineering, Hiroshima University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 岩田 穆 / Atsushi Iwata |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 広島大学工学部 Faculty of Engineering, Hiroshima University |
| 発表年月日 | 1997/8/22 |
| 資料番号 | ICD97-111 |
| 巻番号（vol） | vol.97 |
| 号番号（no） | 230 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |