講演名 1997/5/22
1Gb DRAMのための200Gb/sの不良ビット検索機能を備えたOn-Wafer BIST
岡田 敦彦, 田野井 聡, 徳永 安弘, 田邊 哲也, 高橋 和彦, 伊藤 眞宏, 長友 良樹, 大槻 欣男, 上杉 勝,
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抄録(和) ギガビット級のDRAMのウエハテスト時間短縮を目指し、200Gb/sのレートでの不良ビット検索が可能なOn・Wafer BIST方式を開発した。超長語(VLW)のバスを備えるアレイ・アーキテクチャによりテスト結果の一括転送を、ウエハ上に設けたテスト・マネジメント・ユニットによりテスト情報の圧縮を実行する。試作した1GbDRAMにおいて、本方式により不良ビット検索時間を従来の1/100に短縮できた。
抄録(英) A 200Gb/s failed-bit searchable 1Gb DRAM has been developed using an on-wafer BIST technique. Included circuits are a 4kb very-long word bus to probe the array circuits and on-wafer test management units to compress the test results. This BIST shortens a wafer test time to less than 1/100 compared with bit-by-bit testing.
キーワード(和) DRAM BIST / テスト / ギガビット / 超長語 / 検索
キーワード(英) DRAM / BIST / test / giga-bit / very-long-word / search
資料番号 ICD97-17
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 1997/5/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 1Gb DRAMのための200Gb/sの不良ビット検索機能を備えたOn-Wafer BIST
サブタイトル(和)
タイトル(英) On-Wafer BIST of a 200Gb/s Failed-Bit Search for 1Gb DRAM
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) DRAM BIST / DRAM
キーワード(2)(和/英) テスト / BIST
キーワード(3)(和/英) ギガビット / test
キーワード(4)(和/英) 超長語 / giga-bit
キーワード(5)(和/英) 検索 / very-long-word
第 1 著者 氏名(和/英) 岡田 敦彦 / Atsuhiko Okada
第 1 著者 所属(和/英) 沖電気工業株式会社
VLSI R & D Center Oki Electric Industry Co., Ltd.
第 2 著者 氏名(和/英) 田野井 聡 / Satoru Tanoi
第 2 著者 所属(和/英) 沖電気工業株式会社
VLSI R & D Center Oki Electric Industry Co., Ltd.
第 3 著者 氏名(和/英) 徳永 安弘 / Yasuhiro Tokunaga
第 3 著者 所属(和/英) 沖電気工業株式会社
VLSI R & D Center Oki Electric Industry Co., Ltd.
第 4 著者 氏名(和/英) 田邊 哲也 / Tetsuya Tnabe
第 4 著者 所属(和/英) 沖電気工業株式会社
VLSI R & D Center Oki Electric Industry Co., Ltd.
第 5 著者 氏名(和/英) 高橋 和彦 / Kazuhiko Takahashi
第 5 著者 所属(和/英) 沖電気工業株式会社
VLSI R & D Center Oki Electric Industry Co., Ltd.
第 6 著者 氏名(和/英) 伊藤 眞宏 / Masahiro Itoh
第 6 著者 所属(和/英) 沖電気工業株式会社
VLSI R & D Center Oki Electric Industry Co., Ltd.
第 7 著者 氏名(和/英) 長友 良樹 / Yoshiki Nagatomo
第 7 著者 所属(和/英) 沖電気工業株式会社
VLSI R & D Center Oki Electric Industry Co., Ltd.
第 8 著者 氏名(和/英) 大槻 欣男 / Yoshio Ohtsuki
第 8 著者 所属(和/英) 沖電気工業株式会社
VLSI R & D Center Oki Electric Industry Co., Ltd.
第 9 著者 氏名(和/英) 上杉 勝 / Masaru Uesugi
第 9 著者 所属(和/英) 沖電気工業株式会社
VLSI R & D Center Oki Electric Industry Co., Ltd.
発表年月日 1997/5/22
資料番号 ICD97-17
巻番号(vol) vol.97
号番号(no) 56
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日