講演名 1996/3/11
アクティブ層にエッチストップ層を用いた薄膜SOI形成プロセス
海野 秀之, 今井 和雄,
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抄録(和) 貼り合わせ技術を用いた薄膜SOI形成プロセスを提案する。本プロセスはシングルエッチストップ法であり、エッチストップ層をアクティブ層として用いる。エッチストップ層中のボロンは高温水素処理によって低減する。従って、エピ成長工程が不要であり、高価な専用装置も必要としないため、低コストでSOI基板の形成が可能である。本方法を用いて、膜厚100nm、ボロン濃度4×10^<16>cm^<-3>の薄膜SOI基板を形成することができた。エッチストップ後のSOI膜の膜厚均一性(σ)は5~10nmである。また、水素処理によりシリコン膜の表面ラフネスも改善され、Rms値で0.2~0.3nmと良好な値が得られた。
抄録(英) A thin-SOI process is proposed. This method is classified as a single etch-stop method. It uses an etch-stop layer as an active layer by decreasing boron concentration in the etch-stop layer. As a result, epitaxial growth and high-price exclusive equipment are not needed in this method making it possible to fabricate a low-cost SOI. Using this method we have fabricated a thin-SOI substrate having 100-nm thickness and with 4×10^<16> cm^<-3> boron concentration. SOI thickness deviation after the etch-stop has 5-10nm. Also, the silicon surface roughness decreased from 2.3nm to about 0.2nm due to the H_2 annealing effect.
キーワード(和) 貼り合わせ / SOI / エッチストップ / 外方拡散 / ボロン
キーワード(英) bonding / SOI / etch-stop / out-diffusion / boron
資料番号 SDM95-272
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 1996/3/11(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) アクティブ層にエッチストップ層を用いた薄膜SOI形成プロセス
サブタイトル(和)
タイトル(英) Thin-SOI Process Using an Etch-stop Layer as an Active Layer
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 貼り合わせ / bonding
キーワード(2)(和/英) SOI / SOI
キーワード(3)(和/英) エッチストップ / etch-stop
キーワード(4)(和/英) 外方拡散 / out-diffusion
キーワード(5)(和/英) ボロン / boron
第 1 著者 氏名(和/英) 海野 秀之 / Hideyuki Unno
第 1 著者 所属(和/英) NTT LSI研究所
NTT LSI Laboratories
第 2 著者 氏名(和/英) 今井 和雄 / Kazuo Imai
第 2 著者 所属(和/英) NTT LSI研究所
NTT LSI Laboratories
発表年月日 1996/3/11
資料番号 SDM95-272
巻番号(vol) vol.95
号番号(no) 570
ページ範囲 pp.-
ページ数 7
発行日