講演名 1995/4/21
SOI基板上に作製したスプリットゲートMOS構造のコンダクタンス振動現象
石黒 仁揮, 平本 俊郎, 藤田 博之, 生駒 俊明,
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抄録(和) Si極微細構造における電気伝導を解明するため、Si極微細MOS構造を作製しその電気特性の測定を行なっている。SOI(Silicon On Insulator)基板上に電子ビーム露光およびリフトオフによりスプリットゲートを作製し、静電的に電子の伝導チャネルを細線領域に閉じ込めることで、極微細MOS構造を実現した。4.2K以下の測定でピンチオフ電圧付近のコンダクタンスに振動が観測された。フーリエスペクトルからコンダクタンス振動は、周期的成分および非周期的成分から形成されていることが分かった。また、ドレイン-ソース間の電流一電圧特性には非線形性が観測された。これらの現象は電気伝導がクーロンブロケードによる単一電子トンネル、およびホッピング伝導に支配されていることを示すものだと考えられる。
抄録(英) A very narrow, short channel n-MOSFET has been fabricated utilizing the electrostatic potential confinement by a split-gate on an SOI substrate and it's electrical transport properties have been investigated at very low temperatures (≤4.2 K). Conductance as a function of the split-gate voltage exhibits oscillations near the pinchoff voltage. The oscillations consist of a periodic component and aperiodic components. Current-voltage (I_-V_) characteristics show nonlinearity at small drain voltage when the split-gate voltage was kept at the valley of the conductance oscillations. The origin of the conductance oscillations is discussed in terms of the Coulomb blockade of single electron tunneling and hopping transport .
キーワード(和) クーロンブロケード / 単一電子トンネル / ホッピング伝導 / スプリットゲート / SOI / MOS
キーワード(英) Coulomb blockade / single electron tunneling / hopping transport / split-gate / SOI / MOS
資料番号
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 1995/4/21(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) SOI基板上に作製したスプリットゲートMOS構造のコンダクタンス振動現象
サブタイトル(和)
タイトル(英) Conductance Oscillations in a Split-Gate MOSFET Fabricated on an SOI Substrate
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) クーロンブロケード / Coulomb blockade
キーワード(2)(和/英) 単一電子トンネル / single electron tunneling
キーワード(3)(和/英) ホッピング伝導 / hopping transport
キーワード(4)(和/英) スプリットゲート / split-gate
キーワード(5)(和/英) SOI / SOI
キーワード(6)(和/英) MOS / MOS
第 1 著者 氏名(和/英) 石黒 仁揮 / Hiroki Ishikuro
第 1 著者 所属(和/英) 東京大学生産技術研究所
Institute of Industrial Science, University of Tokyo
第 2 著者 氏名(和/英) 平本 俊郎 / Toshiro Hiramoto
第 2 著者 所属(和/英) 東京大学生産技術研究所
Institute of Industrial Science, University of Tokyo
第 3 著者 氏名(和/英) 藤田 博之 / Hiroyuki Fujita
第 3 著者 所属(和/英) 東京大学生産技術研究所
Institute of Industrial Science, University of Tokyo
第 4 著者 氏名(和/英) 生駒 俊明 / Toshiaki Ikoma
第 4 著者 所属(和/英) T.I.筑波研究開発センター
T.I. Tsukuba R&D Center Ltd.
発表年月日 1995/4/21
資料番号
巻番号(vol) vol.95
号番号(no) 10
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日