講演名 1996/12/5
テトライソシアネートシランを用いたSiO:F膜のプラズマCVD
中神 優子, 澤田 真人, 白藤 立, 林康 明, 西野 茂弘,
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抄録(和) テトライソシアネートシラン(TICS, Si(NCO)_4)を用いたプラズマCVD法によりSiO_2膜の堆積を行った.堆積膜は吸湿性を示し, その原因は腹中へのNCO基の混入であった.原料にO_2添加することにより, NCO混入が抑制され耐湿性が改善された.SiF_4を添加することによりSiO:F膜が堆積された. F濃度が128_%の膜の堆積直後における比誘電率は3.3,1MV/cmにおける絶縁抵抗率は3.6x10^<15>Ωcm,絶縁破壊電圧は7.7 MV/cmであった.また,4週間の大気放置後も赤外吸収スペクトルにはOHピークが見られず,高い耐湿性を示した.
抄録(英) SiO_2 films have been prepared from tetraisocyanatesilane(TICS, Si(NCO)_4) by using a plasma CVD method. The films show poor water resistively, which originates in inclusion of NCO in the films. It has been improved by mixing O_2 to the source gas SiO:F films have been prepared by mixing SiF_4. The film with F concentration of 12.8_% has shown dielectric constant of 3.3, resistively of 3.6x10^<15>Ωcm at 1MV/cm, break down electric fled of 7.7MV/cm. Infrared spectrum of the film have contained no noticeable OH peak even after 4-week air exposure, which means that the film have excellent stability.
キーワード(和) テトライソシアネートシラン / 低誘電率 / F添加SiO_2膜 / SiF_4 / プラズマ / 層間絶縁膜
キーワード(英) Tetraisocyanatesilane / Low dielectric constant / F-doped SiO_2 / SiF_4 / Plasma / interlayer dielectric
資料番号 SDM96-150
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 1996/12/5(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) テトライソシアネートシランを用いたSiO:F膜のプラズマCVD
サブタイトル(和)
タイトル(英) Plasma CVD of SiO:F Films from Tetraisocyanatesilane
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) テトライソシアネートシラン / Tetraisocyanatesilane
キーワード(2)(和/英) 低誘電率 / Low dielectric constant
キーワード(3)(和/英) F添加SiO_2膜 / F-doped SiO_2
キーワード(4)(和/英) SiF_4 / SiF_4
キーワード(5)(和/英) プラズマ / Plasma
キーワード(6)(和/英) 層間絶縁膜 / interlayer dielectric
第 1 著者 氏名(和/英) 中神 優子 / Yuko NAKAGAMI
第 1 著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学工芸学部電子情報工学科
Department of Electronics and Information Science, Kyoto Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 澤田 真人 / Mahito SAWADA
第 2 著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学工芸学部電子情報工学科
Department of Electronics and Information Science, Kyoto Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 白藤 立 / Tatsuru SHIRAFUJI
第 3 著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学工芸学部電子情報工学科
Department of Electronics and Information Science, Kyoto Institute of Technology
第 4 著者 氏名(和/英) 林康 明 / Yasuaki HAYASHI
第 4 著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学工芸学部電子情報工学科
Department of Electronics and Information Science, Kyoto Institute of Technology
第 5 著者 氏名(和/英) 西野 茂弘 / Shigehiro NISHINO
第 5 著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学工芸学部電子情報工学科
Department of Electronics and Information Science, Kyoto Institute of Technology
発表年月日 1996/12/5
資料番号 SDM96-150
巻番号(vol) vol.96
号番号(no) 395
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日