講演名 2000/1/26
不均質媒質による第2高調波ビームの劣化について
秋山 いわき, 福地 教夫, 大矢 晃久,
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抄録(和) 本研究は最近医療で用いられているエコーの第2高調波成分を利用して映像化するいわゆるハーモニックイメージングに関する。第2高調波ビームの特徴は、基本波ビームに比べてビーム幅がルート2分の1になること、サイドローブの強度が抑えられているという点である。本研究では不均質媒質を振動子の直後に置いて、それを透過した音場を測定して、ビームの劣化について調査した。アクリル板、豚肉、豚脂肪を挿入して円形凹面振動子の音場を計測したところ、ビーム幅の劣化は著しいが、サイドローブは抑圧されていることが観察された。すなわち、ハーモニックイメージの画質の向上はサイドローブ抑圧によるアーチファクトの軽減が主因であることを示した。
抄録(英) This study is concerned with harmonic imaging which has been widely used in clinical medicine.The feature of the ultrasonic beam formed by second harmonic copponent is that beam width is one over two square root narrower than that of fundamental beam and intensity of side lobe is much lower than that of foundamental beam.In this study we made experiments to clarify what the major cause of the image improvements for harmonic imaging is.Measured ultrasonic wave fields through acrilic plate, pig musckle and pig fat show that significant beam broadening and low intensity of sidelobe for second harmonmic beam are observed.Therefore the major reason of improvements of harmonic imaging is decrease of artifacts due to lower intensity of sidelobe.
キーワード(和) ハーモニックイメージ / ビーム幅 / サイドローブ / 画質 / 音場 / ビームパターン
キーワード(英) Harmonic imaging / beam width / sidelobe / image quality / ultrasound field / beam pattern
資料番号 US99-78,EA99-92
発行日

研究会情報
研究会 EA
開催期間 2000/1/26(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Engineering Acoustics (EA)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 不均質媒質による第2高調波ビームの劣化について
サブタイトル(和)
タイトル(英) Second Harmonic Beam Degredation in Heterogeneous Media
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ハーモニックイメージ / Harmonic imaging
キーワード(2)(和/英) ビーム幅 / beam width
キーワード(3)(和/英) サイドローブ / sidelobe
キーワード(4)(和/英) 画質 / image quality
キーワード(5)(和/英) 音場 / ultrasound field
キーワード(6)(和/英) ビームパターン / beam pattern
第 1 著者 氏名(和/英) 秋山 いわき / Iwaki Akiyama
第 1 著者 所属(和/英) 湘南工科大学電気工学科
Dept.of Electrical Engineering Shonan Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 福地 教夫 / Norio Fukuchi
第 2 著者 所属(和/英) 湘南工科大学電気工学科
Dept.of Electrical Engineering Shonam Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 大矢 晃久 / Akihisa Ohya
第 3 著者 所属(和/英) 筑波大学電子情報工学系
Inst.of Information Science and Electronics University of Tsukuba
発表年月日 2000/1/26
資料番号 US99-78,EA99-92
巻番号(vol) vol.99
号番号(no) 589
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日