| 講演名 | 1995/6/23 イヤホン装着時の漏洩効果の平行平板モデル近似 野毛 悟, 岡田 真樹, 吉川 昭吉郎, |
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| 抄録(和) | IEC711イヤシミュレータを用いたイヤホンレスポンス測定時に問題となる、漏洩の定量化を行うため、平行平板の持つ機械インピーダンスを適応する方法について検討を行った。イヤホンを実耳に装着したときの耳道内音圧レベルの変化は、平行平板から考案した漏洩用アタッチメントをIEC711イヤシミュレータに付加する測定方法によって、ほぼ再現できることが分かった。本報告で提案する平行平板モデルを用いた漏洩効果の定量化の手法は、幾何学的な寸法のみで漏洩を規定できるうえ、パラメータの変更が容易に行えるため、多様なイヤホンに対応できる。この平行平板モデルは、電気的等価回路を用いたイヤホンレスポンス解析を行う場合にも有用である。 |
| 抄録(英) | The leakage effect, earphone response measurement using the ear simulator standardized by IEC (International Erectrotechnical Commission), becomes a difficult problem. This report described the narrow slit approximation method to treat the leakage effect quantitatively at an earphone measurement. A sound pressure level change which fitted a earphone to a real ear is reproduced the narrow slit approximation method using the newly leakage adaptor and the IEC711 ear simulator. This measurement method using a leakage adaptor is very flexible and simple, so the leakage effect is defined giometicaly scale and the leakage parameter changing continuously and smoothly. This narrow slit approximation method that leakage adaptor defined parameter is successful for an equivalent circuit analysis of an earphone response. |
| キーワード(和) | イヤホン / イヤシミュレータ / 漏洩効果 / 平行平板モデル / レスポンス |
| キーワード(英) | earphone / ear simulator / leakage effect / narrow slit / response |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EA |
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| 開催期間 | 1995/6/23(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Engineering Acoustics (EA) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | イヤホン装着時の漏洩効果の平行平板モデル近似 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A study of the leakage effect on the earphone response measurement using the narrow slit approximation. |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | イヤホン / earphone |
| キーワード(2)（和/英） | イヤシミュレータ / ear simulator |
| キーワード(3)（和/英） | 漏洩効果 / leakage effect |
| キーワード(4)（和/英） | 平行平板モデル / narrow slit |
| キーワード(5)（和/英） | レスポンス / response |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 野毛 悟 / Satoru Noge |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 神奈川工科大学電気電子工学科 Dept. of Electrical and Electronic Engineering KANAGAWA Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 岡田 真樹 / Masaki Okada |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 神奈川工科大学電気電子工学科 Dept. of Electrical and Electronic Engineering KANAGAWA Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 吉川 昭吉郎 / Shokichiro Yoshikawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 神奈川工科大学電気電子工学科 Dept. of Electrical and Electronic Engineering KANAGAWA Institute of Technology |
| 発表年月日 | 1995/6/23 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.95 |
| 号番号（no） | 128 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |