| 講演名 | 1994/10/13 探触子音場のコントラスト分解能に及ぼす影響の球状ファントムによる評価 永田 潔史, 後藤 雅人, 田部井 誠, 上田 光宏, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 超音波Bモード像では、複数の散乱点からのエコーの干渉によって生じるスペックルノイズが存在し、画質劣化の大きな要因となっている。このようなBモード像から対象物の形を識別するのは非常に困難であり、様々な方法で画質評価が行われている。先に我々は球状ファントムを用い昇画質を定量的に評価する方法を提案してきた。そこでコントラスト減少率というパラメータを導入し、Bモード像との関係を検討した。本研究では、まず探触子の音場を変化させたときのBモード像をシミュレーションによって合成し、先のパラメータによる評価の再検討をした。また球状ファントムを用いた実験により本評価法の妥当性を確認した。 |
| 抄録(英) | The quality of the B-mode image is affected by the speckle noise, which is a characteristics of imaging system,therefore,it is very difficult to distinguish region of interest from background on a B- mode image.In this paper,we propose a quantitative image quality evaluation using a spherical phantom,and define a image quality measure which is called as " Contrast Reduction Rate ".Examples of image quality evaluation of B-mode images which are obtained numerically and experimentally are shown. |
| キーワード(和) | Bモード像 / スペックルノイズ / コントラスト分解能 / コントラスト減少率 / 球状ファントム |
| キーワード(英) | B-mode image / speckle noise / contrast resolution / contrast reduction rate / spherical phantom |
| 資料番号 | US94-60 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | US |
|---|---|
| 開催期間 | 1994/10/13(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Ultrasonics (US) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 探触子音場のコントラスト分解能に及ぼす影響の球状ファントムによる評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of effect of transducer's pressure field on contrast resolution by the use of spherical phantom |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | Bモード像 / B-mode image |
| キーワード(2)（和/英） | スペックルノイズ / speckle noise |
| キーワード(3)（和/英） | コントラスト分解能 / contrast resolution |
| キーワード(4)（和/英） | コントラスト減少率 / contrast reduction rate |
| キーワード(5)（和/英） | 球状ファントム / spherical phantom |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 永田 潔史 / Kiyoshi Nagata |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京工業大学 Tokyo Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 後藤 雅人 / Masahito Goto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京工業大学 Tokyo Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 田部井 誠 / Makoto Tabei |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京工業大学精密工学研究所 Precision and Intelligence Laboratory,Tokyo Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 上田 光宏 / Mitsuhiro Ueda |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東京工業大学理工学国際交流センター International cooperation center for science and Technology,Tokyo Institute of University |
| 発表年月日 | 1994/10/13 |
| 資料番号 | US94-60 |
| 巻番号（vol） | vol.94 |
| 号番号（no） | 270 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |