講演名 | 1999/2/12 構造物におけるAE計測の検討 阪下 麻子, 児玉 聡, 山本 洋由, 羽田野 甫, |
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抄録(和) | 耐圧AE試験委員会の共同実験として、3種類の溶接欠陥を設けた圧力容器の耐圧試験においてAE計測を行い、負荷サイクルとAE発生状況、及び溶接欠陥位置とAE源標定結果との関係を調べた。本報ではその実験結果の概要と、信号処理の分野で広く用いられているマッチドフィルタをAE計測用に新たに構成して、AE検出信号への適用を試みた例について報告する。マッチドフィルタの係数信号は、当研究室で提案している相互校正法によって測定した変換子のインパルス応答に基づいて設定した。 |
抄録(英) | Acoustic emission was measured during pressure test of a steel vessel with three types of weld defects, namely, insufficient penetration (IP), slag inclusion (SI) and blowhole (BH). The relations between the load cycles and emission events, and between the defects and source locations were investigated. In addition, for digital signal processing of acoustic emission signals, a matched filter was constructed based on the impulse response of acoustic emission transducers, which was measured by a reciprocity calibration. The effectiveness of the newly proposed matched filter was shown for improving the signal to noise ratios and identifying the signal sources. |
キーワード(和) | アコースティック・エミッション / 圧力容器 / 耐圧試験 / マッチドフィルタ |
キーワード(英) | Acoustic Emission / Steel Vessel / Pressure Test / Matched Filter |
資料番号 | US98-100 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | US |
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開催期間 | 1999/2/12(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Ultrasonics (US) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 構造物におけるAE計測の検討 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Acoustic Emission Measurement on Structural Objects |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | アコースティック・エミッション / Acoustic Emission |
キーワード(2)(和/英) | 圧力容器 / Steel Vessel |
キーワード(3)(和/英) | 耐圧試験 / Pressure Test |
キーワード(4)(和/英) | マッチドフィルタ / Matched Filter |
第 1 著者 氏名(和/英) | 阪下 麻子 / Asako Sakashita |
第 1 著者 所属(和/英) | 東京理科大学基礎工学部電子応用工学科 Dept. of Applied Electronics, Science Univ. of Tokyo |
第 2 著者 氏名(和/英) | 児玉 聡 / Satoru Kodama |
第 2 著者 所属(和/英) | 東京理科大学基礎工学部電子応用工学科 Dept. of Applied Electronics, Science Univ. of Tokyo |
第 3 著者 氏名(和/英) | 山本 洋由 / Hiroyoshi Yamamoto |
第 3 著者 所属(和/英) | 東京理科大学基礎工学部電子応用工学科 Dept. of Applied Electronics, Science Univ. of Tokyo |
第 4 著者 氏名(和/英) | 羽田野 甫 / Hajime Hatano |
第 4 著者 所属(和/英) | 東京理科大学基礎工学部電子応用工学科 Dept. of Applied Electronics, Science Univ. of Tokyo |
発表年月日 | 1999/2/12 |
資料番号 | US98-100 |
巻番号(vol) | vol.98 |
号番号(no) | 587 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |