講演名 1997/4/25
張り合わせ屈曲モデルによる音叉型水晶振動子の周波数温度特性の電極膜厚依存性の解析
伊藤 秀明, 長沢 広輝, 中沢 光男,
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抄録(和) 音叉型水晶振動子の周波数温度特性に与える電極膜厚の影響を実験と理論の両面から考察した。電極を一つの弾性体と考えて片持ち梁の4面全面に電極を張り合わせて屈曲振動しているとして電極を含んだヤング率と密度を求め,それらをfree-clampedの境界条件で求めた回転慣性を無視した片持ち梁の周波数式に代入して一次と二次の周波数温度係数と頂点温度を求め,実験値と比較した。銀のヤング率の一次温度係数を文献から求めた値の細1/4になる-1.35x10^<-4>[℃^<-1>]にすることで電極膜厚を厚くすると周波数頂点温度が低下する実験結果を定量的に説明できることが分かった。
抄録(英) The authors investigated the effect of electrode thickness on frequency-temperature characteristics of a tuning fork quartz crystal experimentally and theoretically. On the assumption that the electrode is an elastic body and a cantilever pasted electrodes on four sides is vibrating in flexure mode, the authors derived the first-order and second-order frequency temperature coefficient and the frequency turnover temperature by substituting both Young's modulus and density including electrode into the frequency equation which neglected the rotary inertia when boundary conditions for the ends are free-clamped. Theoretical equations were compared with experimental results. Adopting that the value of the first-order temperature coefficients of Young's modulus of silver was -1.35x10^<-4>[℃^<-1>], one fourth of the value shown in literature, it was found that the experimental results that as electrode thickness increased the frequency turnover temperature decreased were explained quantitatively.
キーワード(和) 音叉型水晶振動子 / 電極膜厚 / 周波数頂点温度
キーワード(英) Tuning Fork Quartz Crystal / Electrode Thickness / Frequency Turnover Temperature
資料番号 US97-4
発行日

研究会情報
研究会 US
開催期間 1997/4/25(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Ultrasonics (US)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 張り合わせ屈曲モデルによる音叉型水晶振動子の周波数温度特性の電極膜厚依存性の解析
サブタイトル(和)
タイトル(英) Analysis of Dependence of Frequency-Temperature Characteristics of a Tuning Fork Quartz Crystal on Electrode Thickness by Bimorph Flexure Model
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 音叉型水晶振動子 / Tuning Fork Quartz Crystal
キーワード(2)(和/英) 電極膜厚 / Electrode Thickness
キーワード(3)(和/英) 周波数頂点温度 / Frequency Turnover Temperature
第 1 著者 氏名(和/英) 伊藤 秀明 / Hideaki ITOH
第 1 著者 所属(和/英) 信州大学工学部 電気電子工学科
Electrical and Electronics Engineering, Faculty of Engineering, Shinshu University
第 2 著者 氏名(和/英) 長沢 広輝 / Hiroteru NAGASAWA
第 2 著者 所属(和/英) 信州大学工学部 電気電子工学科
Electrical and Electronics Engineering, Faculty of Engineering, Shinshu University
第 3 著者 氏名(和/英) 中沢 光男 / Mitsuo NAKAZAWA
第 3 著者 所属(和/英) 信州大学工学部 電気電子工学科
Electrical and Electronics Engineering, Faculty of Engineering, Shinshu University
発表年月日 1997/4/25
資料番号 US97-4
巻番号(vol) vol.97
号番号(no) 30
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日