| 講演名 | 2001/10/6 YBCO薄膜のマイクロ波表面抵抗と電磁誘導法による臨界電流密度特性 鈴木 克己, 今野 高治, 鈴木 武雄, 山下 大介, 中垣 伸廣, 田巻 明, 榎本 陽一, |
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| 抄録(和) | 超電導臨界電流密度は超電導テープなどの大電力応用にとって重要なパラメータである。しかし超電導臨界電流密度は物質固有の物理定数ではなく、ピニング力とその密度、および磁場侵入長に依存した値、すなわち、製造工程にも大きく依存したパラメータ値である。本報告では、ピニング密度と磁場侵入長に着目し、超電導薄膜の膜厚依存性という実験的手法に基づき超電導臨界電流密度について考察した。ピニング密度はMgO基板上のYBCO薄膜を用いることにより予測できた。磁場侵入長は22GHzマイクロ波表面抵抗測定により予測した。結論として、YBCO薄膜が薄いほどピニング密度が増大し、膜厚の薄い方が1桁ほど大きな電流密度を示した。 |
| 抄録(英) | The superconductive critical current density is the parameter which is important for high power application of superconductive tapes and wires. However, the critical current density are not material proper physical constant but parameter value which greatly depends on manufacturing process parameters, such as pinning force the penetration depth. In this report, critical current density was examined based on the experimental technique of thickness dependence of a superconductive thin film from the viewpoint of pinning density and penetration depth. The pinning density was able to be estimated by using a YBCO thin film on the MgO substrate. The penetration depth was estimated by a 22GHz microwave surface resistance measurement. As a conclusion, the pinning density increased, as a YBCO thin film is thinner, and large current density was shown, as film thickness is less. |
| キーワード(和) | マイクロ波 / 超電導フィルタ / YBCO薄膜 / 表面抵抗 / 臨界電流密度 |
| キーワード(英) | Microwave / Filter / YBCO thin-films / Surface resistance / Critical current density |
| 資料番号 | SCE2001-26 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
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| 開催期間 | 2001/10/6(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | YBCO薄膜のマイクロ波表面抵抗と電磁誘導法による臨界電流密度特性 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | YBCO Film Microwave Surface Resistance and Critical Current Density by Induced Reflection Magnetic Field Method |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | マイクロ波 / Microwave |
| キーワード(2)（和/英） | 超電導フィルタ / Filter |
| キーワード(3)（和/英） | YBCO薄膜 / YBCO thin-films |
| キーワード(4)（和/英） | 表面抵抗 / Surface resistance |
| キーワード(5)（和/英） | 臨界電流密度 / Critical current density |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 鈴木 克己 / Katsumi Suzuki |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 超電導工学研究所 Superconductivity Research Laboratory, ISTEC |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 今野 高治 / Takaharu Konno |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 超電導工学研究所 Superconductivity Research Laboratory, ISTEC |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 鈴木 武雄 / Takeo Suzuki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 超電導工学研究所 Superconductivity Research Laboratory, ISTEC |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 山下 大介 / Daisuke Yamashita |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 超電導工学研究所 Superconductivity Research Laboratory, ISTEC |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 中垣 伸廣 / Hironobu Nakagaki |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 超電導工学研究所 Superconductivity Research Laboratory, ISTEC |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 田巻 明 / Akira Tamaki |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 東京電機大学 Tokyo Denki University |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 榎本 陽一 / Youichi Enomoto |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 超電導工学研究所 Superconductivity Research Laboratory, ISTEC |
| 発表年月日 | 2001/10/6 |
| 資料番号 | SCE2001-26 |
| 巻番号（vol） | vol.101 |
| 号番号（no） | 348 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |