| 講演名 | 1999/7/30 超伝導薄膜デバイスの磁束ノイズ測定 平野 悟, 小山 洋, 平田 恵啓, 松田 瑞史, 師岡 利光, 中山 哲, 栗城 真也, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 低温および高温超伝導薄膜デバイスの磁束量子ダイナミクスを解析するために、直接磁束検出法を用いてYBa_2Cu_3O_<7-δ> (YBCO)薄膜粒界接合(傾角36.8°、膜厚300nm、幅27μm)とエピタキシャルNb薄膜上に集束イオンビーム(FIB)を用いて作製したvariable-thickness-bridge (VTB)の磁束ノイズ特性を測定した。YBCOサンプルの70K付近における磁束ノイズはサンプルの冷却プロセスに敏感に依存したが、69K付近でステップ幅約0.6φ_0のランダム・テレグラフ・ノイズ(RTN)を観測した。Nb薄膜VTBでは5.89Kでステップ幅約0.1φ_0のマルチプル・ステップ・ノイズ(MSN)が現れた。 |
| 抄録(英) | In order to study the vortex dynamics in high-Tc and low-Tc superconducting thin film devices, we investigated the flux noise by the direct flux detection method of YBa_2Cu_3O_<7-δ> (YBCO) grain boundary junctions (misorientation angle 36.8゜, thickness 300 nm, width 27μm) and a short variable-thickness-bridge (VTB) on an epitaxial Nb film (length 100 nm) made by focused-ion-beam (FIB) technique. For the YBCO sample, the flux noise at about 70 K was very sensitive to the history of the cooling process of the sample. However, random telegraph noise (RTN) with a step height of 0.6φ_0 was observed at 69K. For the Nb VTB, multiple step noise (MSN) with a step height of 0.1φ_0 was observed at 5.89K above the critical current. |
| キーワード(和) | 直接磁束検出法 / YBa_2Cu_3O_<7-δ> / (YBCO)粒界接合 / エピタキシャルNb薄膜 / variable-thickness-bridge / ランダム・テレグラフ・ノイズ / マルチプル・ステップ・ノイズ |
| キーワード(英) | Direct flux detection method / YBa_2Cu_3O_<7-δ> (YBCO) grain boundary junction / epitaxial Nb thin film / variable-thickness-bridge / random telegraph noise / multiple step noise |
| 資料番号 | SCE99-19 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
|---|---|
| 開催期間 | 1999/7/30(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 超伝導薄膜デバイスの磁束ノイズ測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Direct Flux Noise Measurement of Superconducting Thin Film Devices |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 直接磁束検出法 / Direct flux detection method |
| キーワード(2)（和/英） | YBa_2Cu_3O_<7-δ> / YBa_2Cu_3O_<7-δ> (YBCO) grain boundary junction |
| キーワード(3)（和/英） | (YBCO)粒界接合 / epitaxial Nb thin film |
| キーワード(4)（和/英） | エピタキシャルNb薄膜 / variable-thickness-bridge |
| キーワード(5)（和/英） | variable-thickness-bridge / random telegraph noise |
| キーワード(6)（和/英） | ランダム・テレグラフ・ノイズ / multiple step noise |
| キーワード(7)（和/英） | マルチプル・ステップ・ノイズ |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 平野 悟 / S. Hirano |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小山 洋 / H. Oyama |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 平田 恵啓 / Y. Hirata |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 松田 瑞史 / M. Matsuda |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 室蘭工業大学電気電子工学科 Muroran Institute of Technology |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 師岡 利光 / T. Morooka |
| 第 5 著者 所属（和/英） | セイコー・インスツルメンツ株式会社 Seiko Instruments Inc. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 中山 哲 / S. Nakayama |
| 第 6 著者 所属（和/英） | セイコー・インスツルメンツ株式会社 Seiko Instruments Inc. |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 栗城 真也 / S. Kuriki |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University |
| 発表年月日 | 1999/7/30 |
| 資料番号 | SCE99-19 |
| 巻番号（vol） | vol.99 |
| 号番号（no） | 249 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |