| 講演名 | 1999/4/23 MgOおよびBMT基板の複素誘電率の低温特性のマイクロ波測定 橋本 経, 上條 智史, 板本 裕光, 小林 禧夫, |
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| 抄録(和) | 本研究では、空洞共振器法により、高温超電導薄膜用MgO単結晶基板およびBa(Mg, L, Sb)O_3セラミック基板についてそれらの複素誘電率(比誘電率ε_s, 誘電正接tanδ_s)の低温測定結果を提供する。常温測定では、14～16GHzにおけるMgO基板のε_s=9.85で測定精度は約0.2%、tanδ_s=7.8×10^<-6>で測定精度は約6.4%である。さらに、100K以下では14GHz付近でε_s=9.6～9.7、tanδ_s<1.0×10^<-6>である。同一ロットの基板ではε_sとtanδ_sのばらつきが小さく、その他の基板ではばらつきが大きい。したがって、マイクロストリップ形フィルタなどの設計を行う際は、その都度、複素誘電率の測定をする必要がある。100K以下における6枚のBMT基板の測定結果は、ε_s=24.0～24.4、tanδ_s=(1～10)×10^<-6>でばらついている。 |
| 抄録(英) | This paper presents measured results of low-temperature dependence of the complex permittivity (ε_s, tanδ_s) of MgO and Ba (Mg, Ta, Sb) O_3 ceramic substrates for High-T_c superconductibe thin films by using a circular cavity resonance method. At the room-temperture, the results of MgO substrates measured at 14～16GHz are ε_s=9.85 within the precision 0.2% and tanδ_s=7.8×10^<-6> within the precision 6.4%. Moreover, the measured results below 100K about 14GHz are ε_s=9.6～9.7 and tanδ_s<1.0×10^<-6>. Many MgO substrates in a lot have almost the same values of ε_s and tanδ_s, but the plates in the different lot have different ε_s and tanδ_s. When we design the microstrip filters, it is necessary to measure the complex permittivity for each substrate. The results of BMT substrates measured below 100K are scattered between ε_s=24.0～24.4 and tanδ_s=(1～10)×10^<-6>. |
| キーワード(和) | 高温超電導薄膜 / 複素誘電率 |
| キーワード(英) | High-Temperature Superconductive thin films / complex permittivity |
| 資料番号 | SCE99-5 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
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| 開催期間 | 1999/4/23(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | MgOおよびBMT基板の複素誘電率の低温特性のマイクロ波測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Microwave measurements of Low-Temperature dependences of complex permittivity of MgO and BMT substrates. |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 高温超電導薄膜 / High-Temperature Superconductive thin films |
| キーワード(2)（和/英） | 複素誘電率 / complex permittivity |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 橋本 経 / Toru Hashimoto |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 埼玉大学工学部 Faculty of Engineering, Saitama University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 上條 智史 / Satoshi Kamijyou |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 埼玉大学工学部 Faculty of Engineering, Saitama University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 板本 裕光 / Hiromitsu Itamoto |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 埼玉大学工学部 Faculty of Engineering, Saitama University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 小林 禧夫 / Yoshio Kobayashi |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 埼玉大学工学部 Faculty of Engineering, Saitama University |
| 発表年月日 | 1999/4/23 |
| 資料番号 | SCE99-5 |
| 巻番号（vol） | vol.99 |
| 号番号（no） | 28 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |