| 講演名 | 1994/7/20 La_<2-x>Sr_xCuO_4の抵抗率と移動度のSrドープ量依存性 高 華, 宇野 和史, 金田 久善, 吉川 信行, 菅原 昌敬, |
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| 抄録(和) | La_2-X>Sr_XCuO_4のバルク試料の抵抗率測定によって、以下の現象を見いだした。(a)抵抗率のx依存性ρ(x)は、x【approximately equal】1, 4^N(N=1,2,3,...)において急激に低下する。この低下は、低温から室温にいたるまで生ずる。(b)超伝導は低温において1/4^2【less than or equal】x【less thanor equal】1/4の範囲で生ずる。ノーマル抵抗率の低下現象を解明するため、La_2-X>Sr_xCuO_4のバルク試料と薄膜試料についてホール効果の測定を行ない、上記のx値において、キャリア移動度が増加する事を確認した。 |
| 抄録(英) | Resistivity measurements of the bulk material of La_2-X>Sr_XCuO_ 4 revealed the following phenomena.(a)The x dependence of the resistivity ρ(x)shows remarkable decrease at x【approximately equa l】1, 4^N(N=1,2,3,...).The decrease is observed from low temperatur e up to room temperature.(b)The superconductivity appears at low temperature in the doping range 1/4^2【less than or equal】x【less than or equal】1/4.In order to investigate the resistivity decrease phenomenon,we conducted the measurement of Hall effect on bulk and film samples of La_2-X>Sr_XCuO_4,and found that the carrier mobility clearly increases around the doping level noted above. |
| キーワード(和) | 高温超伝導体 / La_2-X>Sr_XCuO_4 / ドープ量 / ノーマル抵抗率 / ホール効 果 |
| キーワード(英) | high temperature Superconductor / La_2-X>Sr_XCuO_4 / doping level / normal resistivity / Hall effect |
| 資料番号 | SCE94-20 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
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| 開催期間 | 1994/7/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | La_<2-x>Sr_xCuO_4の抵抗率と移動度のSrドープ量依存性 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Sr-Doping-Level Deperderce of Resistivity and Mobility of La_2-X> Sr_XCuO_4 |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 高温超伝導体 / high temperature Superconductor |
| キーワード(2)（和/英） | La_2-X>Sr_XCuO_4 / La_2-X>Sr_XCuO_4 |
| キーワード(3)（和/英） | ドープ量 / doping level |
| キーワード(4)（和/英） | ノーマル抵抗率 / normal resistivity |
| キーワード(5)（和/英） | ホール効 果 / Hall effect |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高 華 / Hua Gao |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学工学部電子情報工学科 Division of Electrical & Computer Engineering,Faculty of Engineering,Yokohama National University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 宇野 和史 / Kazushi Uno |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学工学部電子情報工学科 Division of Electrical & Computer Engineering,Faculty of Engineering,Yokohama National University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 金田 久善 / Hisayoshi Kaneda |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学工学部電子情報工学科 Division of Electrical & Computer Engineering,Faculty of Engineering,Yokohama National University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 吉川 信行 / Nobuyuki Yoshikawa |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学工学部電子情報工学科 Division of Electrical & Computer Engineering,Faculty of Engineering,Yokohama,National University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 菅原 昌敬 / Masanori Sugahara |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学工学部電子情報工学科 Division of Electrical & Computer Engineering,Faculty of Engineering,Yokohama,National University |
| 発表年月日 | 1994/7/20 |
| 資料番号 | SCE94-20 |
| 巻番号（vol） | vol.94 |
| 号番号（no） | 156 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |