| 講演名 | 1998/7/28 コプラナーストリップ状dc-SQUIDの特性評価 小山 洋, 平野 悟, 松田 瑞史, 鈴木 大介, 小柳 正男, 栗城 眞也, |
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| 抄録(和) | SQUIDの電流-電圧(I-V)特性の解析的な計算をもとに、小さな面積の検出コイルがついたコプラナーストリップ状の縦型SQUID磁束計を作製し、その特性評価を行った。傾角30°, 膜厚300nmの基板上に作製したSQUID磁束計では臨界電流が大きかったため、Arイオンエッチングでジョセフソン接合部の膜厚を薄くし、β_Lを1に近づけることにより変調電圧の増大を試みた。外部交流磁場を印加して算出した実効面積は0.082mm^2となり、ホワイトノイズレベルでの磁場感度は0.24pT/√Hzであった。 |
| 抄録(英) | Following analytical calculations on the current-voltage characteristics of coplanar stripline dc-SQUIDs, we fabricated longitudinal SQUID magnetometer from 300-350nm thick YBCO film on SrTiO_3 bicrystal substrates with 30° and 36.8° misorientation angle. In order to improve ΔV, we controlled the critical current Ic by thinning Josephson junction bridge area.Effective area of the SQUID magnetometer was 0.082mm^2, from which white field noise of 0.24pT/√Hz was obtained. |
| キーワード(和) | SQUID磁束計 / I-V特性 / 実効面積 / 磁場感度 |
| キーワード(英) | SQUID magnetometer / I-V characteristics / effective area / magnetic field noise |
| 資料番号 | SCE98-14 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
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| 開催期間 | 1998/7/28(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | コプラナーストリップ状dc-SQUIDの特性評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Characterization of coplanar stripline dc-SQUID |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | SQUID磁束計 / SQUID magnetometer |
| キーワード(2)（和/英） | I-V特性 / I-V characteristics |
| キーワード(3)（和/英） | 実効面積 / effective area |
| キーワード(4)（和/英） | 磁場感度 / magnetic field noise |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小山 洋 / H. Oyama |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University, |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 平野 悟 / S. Hirano |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University, |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 松田 瑞史 / M. Matsuda |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 室蘭工業大学電気電子工学科 Muroran Institute of Technology, |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 鈴木 大介 / D. Suzuki |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 電子技術総合研究所 Electrotechnical Laboratory, |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 小柳 正男 / M. Koyanagi |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 電子技術総合研究所 Electrotechnical Laboratory, |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 栗城 眞也 / S. Kuriki |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University |
| 発表年月日 | 1998/7/28 |
| 資料番号 | SCE98-14 |
| 巻番号（vol） | vol.98 |
| 号番号（no） | 222 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |