講演名 1998/7/28
直結型SQUID磁束計の磁気結合度
丸山 恵美, 横澤 宏一, Ahmad Rashdi Shah, 栗城 眞也, 鈴木 大介, 小柳 正男,
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抄録(和) 直結型高温超伝導SQUID磁束計の検出コイルとSQUID間の磁気結合度を調べるため、形状の異なるSQUIDを作製し、外部から電流を流すことによってSQUIDに磁気結合するインダクタンス成分を実験的に求めた。その結果、検出コイルからの電流が複雑な経路をとる形状ほど磁気結合度は劣ること、ストリップが細く、電流密度が偏在しない形状では磁気結合度は向上することがわかった。また、平行線状のSQUIDでは、SQUID外部の導入部の電流による磁束結合の効果も見られた。
抄録(英) We have fabricated high-Tc dc SQUIDs, which have different configurations and current injection lines, and measured the magnetic coupling coefficient to study the relation between the coupling coefficient and configurations.It has been found that the coupling coefficient increases, as the current flows in a simple way and the corrent density in the superconductor is distributed uniformly.In a SQUID having coplanar parallel striplines, the injection lines, which bring the induced current in the pickup coil to the SQUID, also contribute to the coupling.
キーワード(和) 直結型SQUID 磁束計 / 高温超伝導 / 実効面積 / 磁気結合度 / 電流密度分布
キーワード(英) Direct coupling SQUID magnetometer / Hihg-Tc superconductor / Effective pickup area / Magnetic coupling / Current distribution
資料番号 SCE98-13
発行日

研究会情報
研究会 SCE
開催期間 1998/7/28(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Superconductive Electronics (SCE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 直結型SQUID磁束計の磁気結合度
サブタイトル(和)
タイトル(英) Magnetic Coupling in the Direct Coupling Type SOUID Magnetometer
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 直結型SQUID 磁束計 / Direct coupling SQUID magnetometer
キーワード(2)(和/英) 高温超伝導 / Hihg-Tc superconductor
キーワード(3)(和/英) 実効面積 / Effective pickup area
キーワード(4)(和/英) 磁気結合度 / Magnetic coupling
キーワード(5)(和/英) 電流密度分布 / Current distribution
第 1 著者 氏名(和/英) 丸山 恵美 / Emi Maruyama
第 1 著者 所属(和/英) 北海道大学電子科学研究所
Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University
第 2 著者 氏名(和/英) 横澤 宏一 / Koichi Yokosawa
第 2 著者 所属(和/英) 北海道大学電子科学研究所:日立製作所中央研究所
Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University:Central Research Laboratory, Hitachi Ltd.
第 3 著者 氏名(和/英) Ahmad Rashdi Shah / Rashdi Shah Ahmad
第 3 著者 所属(和/英) 北海道大学電子科学研究所
Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University
第 4 著者 氏名(和/英) 栗城 眞也 / Shinya Kuriki
第 4 著者 所属(和/英) 北海道大学電子科学研究所
Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University
第 5 著者 氏名(和/英) 鈴木 大介 / Daisuke Suzuki
第 5 著者 所属(和/英) 電子技術総合研究所
Electro-Technical Laboratory
第 6 著者 氏名(和/英) 小柳 正男 / Masao Koyanagi
第 6 著者 所属(和/英) 電子技術総合研究所
Electro-Technical Laboratory
発表年月日 1998/7/28
資料番号 SCE98-13
巻番号(vol) vol.98
号番号(no) 222
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日