講演名 1998/4/22
YBaCuO薄膜の表面抵抗のCu組成依存性
吉武 務, 服部 渉, 田原 修一,
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抄録(和) Cu組成の異なる3種類のYBCO薄膜のマイクロ波表面抵抗(R_s)を、線幅5μm、長さ18cmのコプレーナ伝送線路を用いて測定した。YBCO薄膜のR_sの大きさはCu組成に強く依存し、Cu組成の高い薄膜では10K、10GHzにおいて110μΩと比較的低いR_sを示すのに対して、Cu組成が低下するとR_sが増加することがわかった。また、低Cu組成側の薄膜は、T_c付近で温度とともにR_sが徐々に低下する傾向があり、二流体モデルとは著しく異なった温度依存性を示した。このようなCu組成依存性はYBCO超伝導相の構造と相関があり、低Cu組成側の大きなR_sや特異な温度依存性は、YBCO相中のCu欠損が関係しているものと考えられる。
抄録(英) Microwave surface resistance(R_s) of three types of YBCO films with different Cu composition was measured using 5-μm-wide and 18-cm-long coplanar transmission lines. The R_s of these films depends clearly on Cu composition : the films with Cu-rich composition have relatively low R_s of 110 μΩ at 10 K and 10 GHz and the decrease of Cu composition increases the R_s. The films with Cu-poor composition shows gradual decrease in R_s with decreasing temperature below T_c, which is quite different from the temperature dependence of two-fluid model. These Cu composition dependence correlate with the structure of the YBCO superconducting phase and the Cu deficiency in the YBCO phase caused the large R_s and the unique temperature dependence of R_s in the films with Cu-poor composition.
キーワード(和) 高温超伝導 / YBaCuO / 表面抵抗 / マイクロ波 / コプレーナ / レーザー蒸着法
キーワード(英) high temperature superconductor / YBaCuO / surface resistance / microwave / coplanar / laster ablation
資料番号
発行日

研究会情報
研究会 SCE
開催期間 1998/4/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Superconductive Electronics (SCE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) YBaCuO薄膜の表面抵抗のCu組成依存性
サブタイトル(和)
タイトル(英) Cu composition dependence of surface resistance of YBaCuO films
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 高温超伝導 / high temperature superconductor
キーワード(2)(和/英) YBaCuO / YBaCuO
キーワード(3)(和/英) 表面抵抗 / surface resistance
キーワード(4)(和/英) マイクロ波 / microwave
キーワード(5)(和/英) コプレーナ / coplanar
キーワード(6)(和/英) レーザー蒸着法 / laster ablation
第 1 著者 氏名(和/英) 吉武 務 / Tsutomu Yositake
第 1 著者 所属(和/英) NEC基礎研究所
Fundamental Research Laboratories, NEC Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 服部 渉 / Wataru Hattori
第 2 著者 所属(和/英) NEC基礎研究所
Fundamental Research Laboratories, NEC Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) 田原 修一 / Shuichi Tahara
第 3 著者 所属(和/英) NEC基礎研究所
Fundamental Research Laboratories, NEC Corproation
発表年月日 1998/4/22
資料番号
巻番号(vol) vol.98
号番号(no) 14
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日