講演名 | 1998/4/22 YBaCuO薄膜の表面抵抗のCu組成依存性 吉武 務, 服部 渉, 田原 修一, |
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抄録(和) | Cu組成の異なる3種類のYBCO薄膜のマイクロ波表面抵抗(R_s)を、線幅5μm、長さ18cmのコプレーナ伝送線路を用いて測定した。YBCO薄膜のR_sの大きさはCu組成に強く依存し、Cu組成の高い薄膜では10K、10GHzにおいて110μΩと比較的低いR_sを示すのに対して、Cu組成が低下するとR_sが増加することがわかった。また、低Cu組成側の薄膜は、T_c付近で温度とともにR_sが徐々に低下する傾向があり、二流体モデルとは著しく異なった温度依存性を示した。このようなCu組成依存性はYBCO超伝導相の構造と相関があり、低Cu組成側の大きなR_sや特異な温度依存性は、YBCO相中のCu欠損が関係しているものと考えられる。 |
抄録(英) | Microwave surface resistance(R_s) of three types of YBCO films with different Cu composition was measured using 5-μm-wide and 18-cm-long coplanar transmission lines. The R_s of these films depends clearly on Cu composition : the films with Cu-rich composition have relatively low R_s of 110 μΩ at 10 K and 10 GHz and the decrease of Cu composition increases the R_s. The films with Cu-poor composition shows gradual decrease in R_s with decreasing temperature below T_c, which is quite different from the temperature dependence of two-fluid model. These Cu composition dependence correlate with the structure of the YBCO superconducting phase and the Cu deficiency in the YBCO phase caused the large R_s and the unique temperature dependence of R_s in the films with Cu-poor composition. |
キーワード(和) | 高温超伝導 / YBaCuO / 表面抵抗 / マイクロ波 / コプレーナ / レーザー蒸着法 |
キーワード(英) | high temperature superconductor / YBaCuO / surface resistance / microwave / coplanar / laster ablation |
資料番号 | |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | SCE |
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開催期間 | 1998/4/22(から1日開催) |
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講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | YBaCuO薄膜の表面抵抗のCu組成依存性 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Cu composition dependence of surface resistance of YBaCuO films |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 高温超伝導 / high temperature superconductor |
キーワード(2)(和/英) | YBaCuO / YBaCuO |
キーワード(3)(和/英) | 表面抵抗 / surface resistance |
キーワード(4)(和/英) | マイクロ波 / microwave |
キーワード(5)(和/英) | コプレーナ / coplanar |
キーワード(6)(和/英) | レーザー蒸着法 / laster ablation |
第 1 著者 氏名(和/英) | 吉武 務 / Tsutomu Yositake |
第 1 著者 所属(和/英) | NEC基礎研究所 Fundamental Research Laboratories, NEC Corporation |
第 2 著者 氏名(和/英) | 服部 渉 / Wataru Hattori |
第 2 著者 所属(和/英) | NEC基礎研究所 Fundamental Research Laboratories, NEC Corporation |
第 3 著者 氏名(和/英) | 田原 修一 / Shuichi Tahara |
第 3 著者 所属(和/英) | NEC基礎研究所 Fundamental Research Laboratories, NEC Corproation |
発表年月日 | 1998/4/22 |
資料番号 | |
巻番号(vol) | vol.98 |
号番号(no) | 14 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |