| 講演名 | 1998/1/28 YBaCuO積層型接合の高性能化 鬼沢 忠, 富岡 章, 佐藤 弘, 宝川 幸司, 川邊 潮, 赤穂 博司, |
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| 抄録(和) | YBaCuO/PrBaCuO/YBaCuO積層型接合の高性能化に向け、YBaCuO電極膜およびPrBaCuOバリア層の組成を精密に制御して、異なる基板間での接合特性の再現性を調べた。同じ条件のもとで作製した2つの試料において、4.2Kにおける電流-電圧特性は、余剰電流を持つがRSJ的な特性を示し、ジョセフソン臨界電流密度J_cの平均値は、それぞれ217A/cm^2、136A/cm^2であった。両試料間において、特性に多少のばらつきはあるものの再現性が得られた。また、層間絶縁膜としてCeO_2/MgO二層膜を用いてYBaCuO配線を持つ積層型接合を試作した。 |
| 抄録(英) | We have demonstrated the reproducibility of YBaCuO/PrBaCuO/YBaCuO trilayer junctions on the different substrates, which are fabricated by precisely controlling the composition of YBaCuO films and PrBaCuO barriers. Both two junction samples on the different substrate showed the RSJ-like current-voltage characteristic with the average values of the Josephson critical current density of 217A/cm^2 and 136A/cm^2, indicating the reasonable reproducibility of YBaCuO trilayer junctions. In addition, we have tried to fabricate the YBaCuO trilayer junctions with the YBaCuO wiring layer using a CeO_2/MgO piled film as an insulating layer. |
| キーワード(和) | YBaCuO積層型接合 / 再現性 / 層間絶縁膜 / YBaCuO配線 |
| キーワード(英) | YBaCuO trilayer junction / reproducibility / insulating layer / YBaCuO wiring |
| 資料番号 | SCE97-43 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
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| 開催期間 | 1998/1/28(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | YBaCuO積層型接合の高性能化 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Advancement of YBaCuO Trilayer Junctions |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | YBaCuO積層型接合 / YBaCuO trilayer junction |
| キーワード(2)（和/英） | 再現性 / reproducibility |
| キーワード(3)（和/英） | 層間絶縁膜 / insulating layer |
| キーワード(4)（和/英） | YBaCuO配線 / YBaCuO wiring |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 鬼沢 忠 / Tadashi Onizawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 神奈川工科大学 Kanagawa Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 富岡 章 / Akira Tomioka |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 千葉工業大学 Chiba Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 佐藤 弘 / Hiroshi Sato |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 電子技術総合研究所 Electrotechnical Laboratory |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 宝川 幸司 / Kohji Hohkawa |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 神奈川工科大学 Kanagawa Institute of Technology |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 川邊 潮 / Usio Kawabe |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 千葉工業大学 Chiba Institute of Technology |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 赤穂 博司 / Hiroshi Akoh |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 電子技術総合研究所 Electrotechnical Laboratory |
| 発表年月日 | 1998/1/28 |
| 資料番号 | SCE97-43 |
| 巻番号（vol） | vol.97 |
| 号番号（no） | 516 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |