| 講演名 | 2000/11/7 Fabrication and Recording Characteristics of Sputter-deposited Ferrite Thin Film Disks , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | M-type Ba ferrite(BaM)disks were prepared on Pt and Pt-Ta underlayers using facing targets sputtering apparatus. Pt underlayers are more stable and more effective than ZnO underlayers to promote the c-axis orientation of BaM layers deposited on them, especially for extremely thin BaM films. Pt-Ta underlayer was used to decrease the grain size of BaM layers deposited on them. BaM/Pt-Ta disks revealed larger S/N ratio than BaM/Pt disks because of their larger signal output and lower media noise level. BaM disks with 50nm thick BaM layers revealed lower noise level and larger S/N ratio than that with 100 nm thick BaM layers due to smaller grain size. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | Ba-ferrite / thin film recording media / perpendicular magnetic recording / Pt underlayer |
| 資料番号 | MR2000-40 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MR |
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| 開催期間 | 2000/11/7(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Magnetic Recording (MR) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fabrication and Recording Characteristics of Sputter-deposited Ferrite Thin Film Disks |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Ba-ferrite |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / S. Nakagawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Dept.of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2000/11/7 |
| 資料番号 | MR2000-40 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 422 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |