講演名 2002/1/17
各種成膜法により作製したY_2O_3 : Mn蛍光体薄膜のPL及びEL特性
白井 徹也, 小林 洋平, 山崎 正志, 宮田 俊弘, 南 内嗣,
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抄録(和) ゾル-ゲル法、PLD法及び高周波マグネトロンスパッタリング法により作製したY_2O_3 : Mn薄膜EL素子のPLおよびEL特性について検討した。いずれの成膜法においても形成された膜の結晶構造が立方晶の場合は、PL及びELが得られなかった。一方、形成された膜の結晶構造が単斜晶を含む場合は、PL及びELにおいて高輝度黄色発光を実現できた。Y_2O_3 : Mn薄膜EL素子では、その発光特性が母体の結晶構造に強く依存し、立方晶系の成長を抑えて単斜晶系に主として結晶化させた膜を作製することによって、高輝度発光を実現できることが分かった。
抄録(英) The photoluminescent (PL) and electroluminescent (EL) characteristics from Y_2O_3 : Mn thin films prepared by sol-gel process, PLD or r.f. magnetron sputtering were found to be strongly dependent on the deposition method as well as the preparation conditions of the thin films. The difference of luminescent characteristics were mainly attributed to the crystal structure of the resulting Y_2O_3 : Mn thin films. When the crystal structure of Y_2O_3 : Mn thin films was monoclinic, both the PL and EL emissions were observed. But the PL and EL emissions was not observed in Y_2O_3 : Mn thin films of which the crystal structure was cubic. High-luminance PL and EL emissions were realized by controlling the crystal structure of the Y_2O_3 : Mn thin film.
キーワード(和) エレクトロルミネッセンス / 薄膜EL素子 / 蛍光体 / 酸化物蛍光体 / 酸化イットリウム
キーワード(英) electroluminescence / TFEL device / phosphor / oxide phosphor / Y_2O_3
資料番号 EID2001-95
発行日

研究会情報
研究会 EID
開催期間 2002/1/17(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electronic Information Displays (EID)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 各種成膜法により作製したY_2O_3 : Mn蛍光体薄膜のPL及びEL特性
サブタイトル(和)
タイトル(英) PL AND EL FROM Y_2O_3 : Mn THIN FILMS PREPARED BY VARIOUS DEPOSITION METHODS
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) エレクトロルミネッセンス / electroluminescence
キーワード(2)(和/英) 薄膜EL素子 / TFEL device
キーワード(3)(和/英) 蛍光体 / phosphor
キーワード(4)(和/英) 酸化物蛍光体 / oxide phosphor
キーワード(5)(和/英) 酸化イットリウム / Y_2O_3
第 1 著者 氏名(和/英) 白井 徹也 / Tetsuya Shirai
第 1 著者 所属(和/英) O.E.デバイスシステムR&Dセンター、金沢工業大学
O.E. Device System R&D center, Kanazawa Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 小林 洋平 / Youhei Kobayashi
第 2 著者 所属(和/英) O.E.デバイスシステムR&Dセンター、金沢工業大学
O.E. Device System R&D center, Kanazawa Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 山崎 正志 / Masashi Yamazaki
第 3 著者 所属(和/英) O.E.デバイスシステムR&Dセンター、金沢工業大学
O.E. Device System R&D center, Kanazawa Institute of Technology
第 4 著者 氏名(和/英) 宮田 俊弘 / Toshihiro Miyata
第 4 著者 所属(和/英) O.E.デバイスシステムR&Dセンター、金沢工業大学
O.E. Device System R&D center, Kanazawa Institute of Technology
第 5 著者 氏名(和/英) 南 内嗣 / Tadatsugu Minami
第 5 著者 所属(和/英) O.E.デバイスシステムR&Dセンター、金沢工業大学
O.E. Device System R&D center, Kanazawa Institute of Technology
発表年月日 2002/1/17
資料番号 EID2001-95
巻番号(vol) vol.101
号番号(no) 599
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日