| 講演名 | 2001/1/23 対象物体のスケールを考慮したGA及びSAによる対応点探索 鈴木 研二, 長谷山 美紀, 北島 秀夫, |
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| 抄録(和) | 本文では, 異なった画像に存在する同一物体を対応付ける手法を提案する.対象物体を対応付ける手法として, 弾性輪郭モデルを用いた手法が既に提案されているが, 同一物体の大きさが異なる場合の対応付けには適用されていない.提案手法では, 従来法の探索アルゴリズムである遺伝的アリゴリズムの遺伝子型を改良し, 対象物体のスケールも考慮に入れた対応点探索を可能とする.また, 実験を行い, その有効性を確認する. |
| 抄録(英) | This paper proposes a method which determines the correspondence of the same objects in two different images. The previous methods which use an elastic contour model cannot determine it without knowledge about the scale of the object. The proposed method enable searching for the object without knowledge about its scale by an improvement of the genotype in a genetic algorithm. This paper also verifies the validity of proposed method by several experiments. |
| キーワード(和) | 遺伝的アルゴリズム / 焼きなまし法 / 特徴点 / 対応付け問題 / 弾性モデル |
| キーワード(英) | genetic algorithm / simulated annealing / feature point / correspondence problem / elastic model |
| 資料番号 | EID2000-288,IE2000-143 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID |
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| 開催期間 | 2001/1/23(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 対象物体のスケールを考慮したGA及びSAによる対応点探索 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Matching Feature-Points Using the Scale of the Object with a GA and SA |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遺伝的アルゴリズム / genetic algorithm |
| キーワード(2)（和/英） | 焼きなまし法 / simulated annealing |
| キーワード(3)（和/英） | 特徴点 / feature point |
| キーワード(4)（和/英） | 対応付け問題 / correspondence problem |
| キーワード(5)（和/英） | 弾性モデル / elastic model |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 鈴木 研二 / Kenji Suzuki |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 北海道大学 工学研究科 School of Engineering, Hokkaido University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 長谷山 美紀 / Miki Haseyama |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 北海道大学 工学研究科 School of Engineering, Hokkaido University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 北島 秀夫 / Hideo Kitajima |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 北海道大学 工学研究科 School of Engineering, Hokkaido University |
| 発表年月日 | 2001/1/23 |
| 資料番号 | EID2000-288,IE2000-143 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 604 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |